Метод восстановления работоспособности микропроцессорных систем высокой готовности при отказах, связанных с воздействием электростатических разрядов
Системы высокой готовности должны обеспечивать минимальное время простоя. Воздействие разрядов статического электричества на микропроцессорную систему высокой готовности может вызвать отказ. По результатам авторского контроля микропроцессорных систем, в условиях длительной непрерывной их эксплуатац...
Збережено в:
Видавець: | Інститут проблем математичних машин і систем НАН України |
---|---|
Дата: | 2019 |
Автор: | |
Формат: | Стаття |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Інститут проблем математичних машин і систем НАН України
2019
|
Назва видання: | Математичні машини і системи |
Теми: | |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/151941 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Цитувати: | Метод восстановления работоспособности микропроцессорных систем высокой готовности при отказах, связанных с воздействием электростатических разрядов / В.Ф. Белявин // Математичні машини і системи. — 2019. — № 1. — С. 179–190. — Бібліогр.: 13 назв. — рос. |
Репозиторії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineРезюме: | Системы высокой готовности должны обеспечивать минимальное время простоя. Воздействие разрядов статического электричества на микропроцессорную систему высокой готовности может вызвать отказ. По результатам авторского контроля микропроцессорных систем, в условиях длительной непрерывной их эксплуатации на более чем пятистах объектах страны, наблюдался отказ, который имел признаки устранимого отказа. Экспериментально установлено, что перезапуск микроконтроллера микропроцессорной системы по входу сброса гарантированно не выводит его из состояния зависания. Высокая степень микроминиатюризации компонентов кристалла микроконтроллера влечет за собой повышение чувствительности к воздействию электростатических разрядов. Приведены данные по относительной чувствительности к воздействию электростатических разрядов на полупроводниковые элементы различных структур под влиянием статического электричества на базовые элементы структуры микроконтроллера. |
---|