Метод восстановления работоспособности микропроцессорных систем высокой готовности при отказах, связанных с воздействием электростатических разрядов

Системы высокой готовности должны обеспечивать минимальное время простоя. Воздействие разрядов статического электричества на микропроцессорную систему высокой готовности может вызвать отказ. По результатам авторского контроля микропроцессорных систем, в условиях длительной непрерывной их эксплуатац...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Видавець:Інститут проблем математичних машин і систем НАН України
Дата:2019
Автор: Белявин, В.Ф.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут проблем математичних машин і систем НАН України 2019
Назва видання:Математичні машини і системи
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/151941
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Цитувати:Метод восстановления работоспособности микропроцессорных систем высокой готовности при отказах, связанных с воздействием электростатических разрядов / В.Ф. Белявин // Математичні машини і системи. — 2019. — № 1. — С. 179–190. — Бібліогр.: 13 назв. — рос.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-151941
record_format dspace
spelling irk-123456789-1519412019-06-02T01:25:22Z Метод восстановления работоспособности микропроцессорных систем высокой готовности при отказах, связанных с воздействием электростатических разрядов Белявин, В.Ф. Якість, надійність і сертифікація обчислювальної техніки і програмного забезпечення Системы высокой готовности должны обеспечивать минимальное время простоя. Воздействие разрядов статического электричества на микропроцессорную систему высокой готовности может вызвать отказ. По результатам авторского контроля микропроцессорных систем, в условиях длительной непрерывной их эксплуатации на более чем пятистах объектах страны, наблюдался отказ, который имел признаки устранимого отказа. Экспериментально установлено, что перезапуск микроконтроллера микропроцессорной системы по входу сброса гарантированно не выводит его из состояния зависания. Высокая степень микроминиатюризации компонентов кристалла микроконтроллера влечет за собой повышение чувствительности к воздействию электростатических разрядов. Приведены данные по относительной чувствительности к воздействию электростатических разрядов на полупроводниковые элементы различных структур под влиянием статического электричества на базовые элементы структуры микроконтроллера. Системи високої готовності повинні забезпечувати мінімальний час простою. Вплив розрядів статичної електрики на мікропроцесорну систему високої готовності може викликати відмову. За результатами авторського контролю мікропроцесорних систем, в умовах тривалої безперервної їх експлуатації на більш ніж п'ятистах об'єктах країни, спостерігалась відмова, яка мала ознаки усувної відмови. Експериментально встановлено, що перезапуск мікроконтролера мікропроцесорної системи по входу скидання гарантовано не виводить його зі стану зависання. Високий ступінь мікромініатюризації компонентів кристала мікроконтролера тягне за собою підвищення чутливості до впливу електростатичних розрядів. Наведено дані щодо відносної чутливості до впливу електростатичних розрядів на напівпровідникові елементи різних структур під впливом статичної електрики на базові елементи структури мікроконтролера. Systems of high availability should provide minimal downtime. The impact of electrostatic discharges on a microprocessor system of high availability can cause a failure. According to the results of the author's control of microprocessor systems, in the conditions of their long-term continuous operation at more than five hundred objects of the country, there was a failure, which had signs of an avoidable failure. It was established experimentally that restarting the microcontroller of the microprocessor system on the reset input is guaranteed not to take it out of the hang state. The high degree of microminiaturization of the components of the microcontroller crystal entails an increase in sensitivity to the effects of electrostatic discharges. The data on the relative sensitivity to the effects of electrostatic discharges on the semiconductor elements of various structures, on the effect of static electricity on the basic elements of the structure of the microcontroller were given. 2019 Article Метод восстановления работоспособности микропроцессорных систем высокой готовности при отказах, связанных с воздействием электростатических разрядов / В.Ф. Белявин // Математичні машини і системи. — 2019. — № 1. — С. 179–190. — Бібліогр.: 13 назв. — рос. 1028-9763 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/151941 681.323 ru Математичні машини і системи Інститут проблем математичних машин і систем НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
topic Якість, надійність і сертифікація обчислювальної техніки і програмного забезпечення
Якість, надійність і сертифікація обчислювальної техніки і програмного забезпечення
spellingShingle Якість, надійність і сертифікація обчислювальної техніки і програмного забезпечення
Якість, надійність і сертифікація обчислювальної техніки і програмного забезпечення
Белявин, В.Ф.
Метод восстановления работоспособности микропроцессорных систем высокой готовности при отказах, связанных с воздействием электростатических разрядов
Математичні машини і системи
description Системы высокой готовности должны обеспечивать минимальное время простоя. Воздействие разрядов статического электричества на микропроцессорную систему высокой готовности может вызвать отказ. По результатам авторского контроля микропроцессорных систем, в условиях длительной непрерывной их эксплуатации на более чем пятистах объектах страны, наблюдался отказ, который имел признаки устранимого отказа. Экспериментально установлено, что перезапуск микроконтроллера микропроцессорной системы по входу сброса гарантированно не выводит его из состояния зависания. Высокая степень микроминиатюризации компонентов кристалла микроконтроллера влечет за собой повышение чувствительности к воздействию электростатических разрядов. Приведены данные по относительной чувствительности к воздействию электростатических разрядов на полупроводниковые элементы различных структур под влиянием статического электричества на базовые элементы структуры микроконтроллера.
format Article
author Белявин, В.Ф.
author_facet Белявин, В.Ф.
author_sort Белявин, В.Ф.
title Метод восстановления работоспособности микропроцессорных систем высокой готовности при отказах, связанных с воздействием электростатических разрядов
title_short Метод восстановления работоспособности микропроцессорных систем высокой готовности при отказах, связанных с воздействием электростатических разрядов
title_full Метод восстановления работоспособности микропроцессорных систем высокой готовности при отказах, связанных с воздействием электростатических разрядов
title_fullStr Метод восстановления работоспособности микропроцессорных систем высокой готовности при отказах, связанных с воздействием электростатических разрядов
title_full_unstemmed Метод восстановления работоспособности микропроцессорных систем высокой готовности при отказах, связанных с воздействием электростатических разрядов
title_sort метод восстановления работоспособности микропроцессорных систем высокой готовности при отказах, связанных с воздействием электростатических разрядов
publisher Інститут проблем математичних машин і систем НАН України
publishDate 2019
topic_facet Якість, надійність і сертифікація обчислювальної техніки і програмного забезпечення
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/151941
citation_txt Метод восстановления работоспособности микропроцессорных систем высокой готовности при отказах, связанных с воздействием электростатических разрядов / В.Ф. Белявин // Математичні машини і системи. — 2019. — № 1. — С. 179–190. — Бібліогр.: 13 назв. — рос.
series Математичні машини і системи
work_keys_str_mv AT belâvinvf metodvosstanovleniârabotosposobnostimikroprocessornyhsistemvysokojgotovnostipriotkazahsvâzannyhsvozdejstviemélektrostatičeskihrazrâdov
first_indexed 2023-05-20T17:37:04Z
last_indexed 2023-05-20T17:37:04Z
_version_ 1796153701343166464