2025-02-23T03:52:07-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-160237%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T03:52:07-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-160237%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T03:52:07-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T03:52:07-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
Особливості технології формування металічних контактів до дискретних ІЧ та ТГц приймачів випромінювання на основі епітаксійних шарів CdHgTe
Наведено технологічні особливості формування двошарових металічних контактів до дискретних приймачів інфрачервоного та терагерцового діапазонів спектра, виготовлених на основі епітаксійних шарів CdHgTe, вирощених на підкладках CdZnTe методом рідкофазної епітаксії. Знайдено оптимальну комбінацію ме...
Saved in:
Main Author: | |
---|---|
Format: | Article |
Language: | Ukrainian |
Published: |
Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
2019
|
Series: | Доповіді НАН України |
Subjects: | |
Online Access: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/160237 |
Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Summary: | Наведено технологічні особливості формування двошарових металічних контактів до дискретних приймачів інфрачервоного та терагерцового діапазонів спектра, виготовлених на основі епітаксійних шарів
CdHgTe, вирощених на підкладках CdZnTe методом рідкофазної епітаксії. Знайдено оптимальну комбінацію
металів (адгезивний шар — струмопровідний шар), які створюють омічний контакт до p- та n-областей
CdHgTe в процесі виготовлення дискретних детекторів за планарною технологією. Виміряні вольт-амперні характеристики контактів Mo—Au і Mo—In до епітаксійних шарів р-CdHgTe демонструють лінійний
характер як при кімнатній температурі, так і при Т = 80 К. |
---|