Полевая ионная микроскопия металлов при интенсивном внешнем воздействии
Представлены результаты оригинальных исследований изменений атомно-пространственной структуры различных металлов после интенсивных внешних воздействий (ИВВ), выполненные с помощью метода полевой ионной микроскопии (ПИМ)....
Збережено в:
Дата: | 2003 |
---|---|
Автори: | , , , , |
Формат: | Стаття |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України
2003
|
Назва видання: | Физика и техника высоких давлений |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/168012 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Полевая ионная микроскопия металлов при интенсивном внешнем воздействии / В.А. Ивченко, Б.М. Эфрос, Е.В. Попова, Н.Б. Эфрос, Л.В. Лоладзе // Физика и техника высоких давлений. — 2003. — Т. 13, № 3. — С. 109-116. — Бібліогр.: 12 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineРезюме: | Представлены результаты оригинальных исследований изменений атомно-пространственной структуры различных металлов после интенсивных внешних воздействий (ИВВ), выполненные с помощью метода полевой ионной микроскопии (ПИМ). |
---|