Принципы физической расшифровки изображений в сканирующей микроволновой микроскопии

В работе численно исследуются приёмы построения изображений в СММ, обеспечивающие визуализацию профилей распределения физических параметров объекта в приповерхностной области. Показано, что изображение фундаментальных сигналов изменения резонансной частоты и добротности резонаторного сканирующего зо...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Видавець:	Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
Дата:	2018
Автори:	Гордиенко, Ю.Е., Левченко, А.В., Щербань, И.Н.
Формат:	Стаття
Мова:	Russian
Опубліковано:	Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2018
Назва видання:	Журнал физики и инженерии поверхности
Онлайн доступ:	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/168186
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Цитувати:	Принципы физической расшифровки изображений в сканирующей микроволновой микроскопии / Ю.Е. Гордиенко, А.В. Левченко, И.Н. Щербань // Журнал фізики та інженерії поверхні. — 2018. — Т. 3, № 1. — С. 19-25. — Бібліогр.: 15 назв. — рос.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

id	irk-123456789-168186
record_format	dspace
spelling	irk-123456789-1681862020-04-25T01:25:31Z Принципы физической расшифровки изображений в сканирующей микроволновой микроскопии Гордиенко, Ю.Е. Левченко, А.В. Щербань, И.Н. В работе численно исследуются приёмы построения изображений в СММ, обеспечивающие визуализацию профилей распределения физических параметров объекта в приповерхностной области. Показано, что изображение фундаментальных сигналов изменения резонансной частоты и добротности резонаторного сканирующего зонда далеко не всегда соответствуют профилю указанных параметров. Для обеспечения такого соответствия предлагается реконструировать изображение этих сигналов на основе аналитической аппроксимации соответствующих характеристик преобразования зонда и формирования оптимального пакета сигналов. В роботі чисельно досліджуються прийоми побудови зображень в СММ, що забезпечують візуалізацію профілів розподілу фізичних параметрів об'єкта в приповерхневій області. Показано, що зображення фундаментальних сигналів зміни резонансної частоти і добротності резонатора скануючого зонда далеко не завжди відповідають профілю зазначених параметрів. Для забезпечення такої відповідності пропонується реконструювати зображення цих сигналів на основі аналітичної апроксимації відповідних характеристик перетворення зонда і формування оптимального пакету сигналів. In the paper, the methods of constructing images in SMM are numerically studied, providing visualization of profiles of the distribution of physical parameters of an object in the near-surface region. It is shown that the image of the fundamental signals of the change in the resonant frequency and Q of the resonator scanning probe does not always correspond to the profile of the indicated parameters. To ensure such correspondence, it is proposed to reconstruct the image of these signals on the basis of an analytical approximation of the corresponding conversion characteristics of the probe and formation of the optimal signal packet. 2018 Article Принципы физической расшифровки изображений в сканирующей микроволновой микроскопии / Ю.Е. Гордиенко, А.В. Левченко, И.Н. Щербань // Журнал фізики та інженерії поверхні. — 2018. — Т. 3, № 1. — С. 19-25. — Бібліогр.: 15 назв. — рос. 2519-2485 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/168186 621.385.6 ru Журнал физики и инженерии поверхности Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
institution	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection	DSpace DC
language	Russian
description	В работе численно исследуются приёмы построения изображений в СММ, обеспечивающие визуализацию профилей распределения физических параметров объекта в приповерхностной области. Показано, что изображение фундаментальных сигналов изменения резонансной частоты и добротности резонаторного сканирующего зонда далеко не всегда соответствуют профилю указанных параметров. Для обеспечения такого соответствия предлагается реконструировать изображение этих сигналов на основе аналитической аппроксимации соответствующих характеристик преобразования зонда и формирования оптимального пакета сигналов.
format	Article
author	Гордиенко, Ю.Е. Левченко, А.В. Щербань, И.Н.
spellingShingle	Гордиенко, Ю.Е. Левченко, А.В. Щербань, И.Н. Принципы физической расшифровки изображений в сканирующей микроволновой микроскопии Журнал физики и инженерии поверхности
author_facet	Гордиенко, Ю.Е. Левченко, А.В. Щербань, И.Н.
author_sort	Гордиенко, Ю.Е.
title	Принципы физической расшифровки изображений в сканирующей микроволновой микроскопии
title_short	Принципы физической расшифровки изображений в сканирующей микроволновой микроскопии
title_full	Принципы физической расшифровки изображений в сканирующей микроволновой микроскопии
title_fullStr	Принципы физической расшифровки изображений в сканирующей микроволновой микроскопии
title_full_unstemmed	Принципы физической расшифровки изображений в сканирующей микроволновой микроскопии
title_sort	принципы физической расшифровки изображений в сканирующей микроволновой микроскопии
publisher	Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
publishDate	2018
url	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/168186
citation_txt	Принципы физической расшифровки изображений в сканирующей микроволновой микроскопии / Ю.Е. Гордиенко, А.В. Левченко, И.Н. Щербань // Журнал фізики та інженерії поверхні. — 2018. — Т. 3, № 1. — С. 19-25. — Бібліогр.: 15 назв. — рос.
series	Журнал физики и инженерии поверхности
work_keys_str_mv	AT gordienkoûe principyfizičeskojrasšifrovkiizobraženijvskaniruûŝejmikrovolnovojmikroskopii AT levčenkoav principyfizičeskojrasšifrovkiizobraženijvskaniruûŝejmikrovolnovojmikroskopii AT ŝerbanʹin principyfizičeskojrasšifrovkiizobraženijvskaniruûŝejmikrovolnovojmikroskopii
first_indexed	2023-10-18T22:22:23Z
last_indexed	2023-10-18T22:22:23Z
_version_	1796155344610656256

Принципы физической расшифровки изображений в сканирующей микроволновой микроскопии

Репозиторії

Схожі ресурси