2D3V численное моделирование неустойчивости цилиндрического релятивистского электронного пучка в плазме
Рассматривается новый механизм возникновения пучково-плазменной неустойчивости, обусловленный, из-за различия продольной и поперечной масс релятивистских электронов, не продольной модуляцией цилиндрического релятивистского электронного пучка в плазме, а его разбиением на сгустки за счет дефокусировк...
Збережено в:
| Дата: | 2010 |
|---|---|
| Автори: | , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2010
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/17289 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | 2D3V численное моделирование неустойчивости цилиндрического релятивистского электронного пучка в плазме / К.В. Лотов, В.И. Маслов, И.Н. Онищенко, М.С. Весновская // Вопросы атомной науки и техники. — 2010. — № 4. — С. 12-16. — Бібліогр.: 16 назв. — рос. |