2025-02-23T13:58:44-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-174746%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T13:58:44-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-174746%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T13:58:44-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T13:58:44-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
Размерный эффект в сопротивлении микроконтакта, содержащего точечные дефекты

Размерный эффект в сопротивлении микроконтакта, содержащего точечные дефекты

Теоретически исследовано влияние точечных дефектов на проводимость баллистических микроконтактов. Показано, что размерная зависимость сопротивления R(d) определяется соотношением между диамет­ром контакта d и характерным расстоянием r₀ между примесями. При d <= r₀ величина R(d) чувствительна к пр...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Колесниченко, Ю.А., Омельянчук, А.Н., Тулузов, И.Г.
Format: Article
Language:Russian
Published: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 1995
Series:Физика низких температур
Online Access:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/174746
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Description
Summary:Теоретически исследовано влияние точечных дефектов на проводимость баллистических микроконтактов. Показано, что размерная зависимость сопротивления R(d) определяется соотношением между диамет­ром контакта d и характерным расстоянием r₀ между примесями. При d <= r₀ величина R(d) чувствительна к пространственному расположению рассеивателей в приконтактной области. Проведено численное моделиро­вание проводимости контакта для случайных реализаций распределения примесей.

Similar Items