Размерный эффект в сопротивлении микроконтакта, содержащего точечные дефекты
Теоретически исследовано влияние точечных дефектов на проводимость баллистических микроконтактов. Показано, что размерная зависимость сопротивления R(d) определяется соотношением между диаметром контакта d и характерным расстоянием r₀ между примесями. При d <= r₀ величина R(d) чувствительна к пр...
Збережено в:
Дата: | 1995 |
---|---|
Автори: | , , |
Формат: | Стаття |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
1995
|
Назва видання: | Физика низких температур |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/174746 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Размерный эффект в сопротивлении микроконтакта, содержащего точечные дефекты / Ю.А. Колесниченко, А.Н. Омельянчук, И.Г. Тулузов // Физика низких температур. — 1995. — Т. 21, № 8. — С. 851-855. — Бібліогр.: 11 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraineid |
irk-123456789-174746 |
---|---|
record_format |
dspace |
spelling |
irk-123456789-1747462021-01-28T01:27:42Z Размерный эффект в сопротивлении микроконтакта, содержащего точечные дефекты Колесниченко, Ю.А. Омельянчук, А.Н. Тулузов, И.Г. Теоретически исследовано влияние точечных дефектов на проводимость баллистических микроконтактов. Показано, что размерная зависимость сопротивления R(d) определяется соотношением между диаметром контакта d и характерным расстоянием r₀ между примесями. При d <= r₀ величина R(d) чувствительна к пространственному расположению рассеивателей в приконтактной области. Проведено численное моделирование проводимости контакта для случайных реализаций распределения примесей. Теоретично досліджено вплив точкових дефектів на провідність балістичних мікроконтактів. Показано, що розмірна залежність опору R(d) визначаться співвідношенням між діаметром контакту d та характерним відстанням r₀ між домішками. При d <= r₀ величина R (d ) чутлива до просторового розташування розсіювателі» у приконтактній області. Проведено чисельне моделювання провідності контакту для випадкових реалізацій розподілу домішків. The effect of point defects on conductivity of ballistic point contacts is studied theoretically. It is shown that the size dependence of resistance, R(d) is defined by the ratio between contact diameter (I and impurity-impurity separation r₀. For d <= r₀, the value of R(d) is sensitive to spatial arrangement of stutterers in the near-contact region. Numerical simulation of point contact conductivity is made for a random distribution of impurities. 1995 Article Размерный эффект в сопротивлении микроконтакта, содержащего точечные дефекты / Ю.А. Колесниченко, А.Н. Омельянчук, И.Г. Тулузов // Физика низких температур. — 1995. — Т. 21, № 8. — С. 851-855. — Бібліогр.: 11 назв. — рос. 0132-6414 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/174746 538.9 ru Физика низких температур Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України |
institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
collection |
DSpace DC |
language |
Russian |
description |
Теоретически исследовано влияние точечных дефектов на проводимость баллистических микроконтактов. Показано, что размерная зависимость сопротивления R(d) определяется соотношением между диаметром контакта d и характерным расстоянием r₀ между примесями. При d <= r₀ величина R(d) чувствительна к пространственному расположению рассеивателей в приконтактной области. Проведено численное моделирование проводимости контакта для случайных реализаций распределения примесей. |
format |
Article |
author |
Колесниченко, Ю.А. Омельянчук, А.Н. Тулузов, И.Г. |
spellingShingle |
Колесниченко, Ю.А. Омельянчук, А.Н. Тулузов, И.Г. Размерный эффект в сопротивлении микроконтакта, содержащего точечные дефекты Физика низких температур |
author_facet |
Колесниченко, Ю.А. Омельянчук, А.Н. Тулузов, И.Г. |
author_sort |
Колесниченко, Ю.А. |
title |
Размерный эффект в сопротивлении микроконтакта, содержащего точечные дефекты |
title_short |
Размерный эффект в сопротивлении микроконтакта, содержащего точечные дефекты |
title_full |
Размерный эффект в сопротивлении микроконтакта, содержащего точечные дефекты |
title_fullStr |
Размерный эффект в сопротивлении микроконтакта, содержащего точечные дефекты |
title_full_unstemmed |
Размерный эффект в сопротивлении микроконтакта, содержащего точечные дефекты |
title_sort |
размерный эффект в сопротивлении микроконтакта, содержащего точечные дефекты |
publisher |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України |
publishDate |
1995 |
url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/174746 |
citation_txt |
Размерный эффект в сопротивлении микроконтакта, содержащего точечные дефекты / Ю.А. Колесниченко, А.Н. Омельянчук, И.Г. Тулузов // Физика низких температур. — 1995. — Т. 21, № 8. — С. 851-855. — Бібліогр.: 11 назв. — рос. |
series |
Физика низких температур |
work_keys_str_mv |
AT kolesničenkoûa razmernyjéffektvsoprotivleniimikrokontaktasoderžaŝegotočečnyedefekty AT omelʹânčukan razmernyjéffektvsoprotivleniimikrokontaktasoderžaŝegotočečnyedefekty AT tuluzovig razmernyjéffektvsoprotivleniimikrokontaktasoderžaŝegotočečnyedefekty |
first_indexed |
2023-10-18T22:37:03Z |
last_indexed |
2023-10-18T22:37:03Z |
_version_ |
1796155986064441344 |