Размерный эффект в сопротивлении микроконтакта, содержащего точечные дефекты

Теоретически исследовано влияние точечных дефектов на проводимость баллистических микроконтактов. Показано, что размерная зависимость сопротивления R(d) определяется соотношением между диамет­ром контакта d и характерным расстоянием r₀ между примесями. При d <= r₀ величина R(d) чувствительна к пр...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:1995
Автори: Колесниченко, Ю.А., Омельянчук, А.Н., Тулузов, И.Г.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 1995
Назва видання:Физика низких температур
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/174746
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Размерный эффект в сопротивлении микроконтакта, содержащего точечные дефекты / Ю.А. Колесниченко, А.Н. Омельянчук, И.Г. Тулузов // Физика низких температур. — 1995. — Т. 21, № 8. — С. 851-855. — Бібліогр.: 11 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-174746
record_format dspace
spelling irk-123456789-1747462021-01-28T01:27:42Z Размерный эффект в сопротивлении микроконтакта, содержащего точечные дефекты Колесниченко, Ю.А. Омельянчук, А.Н. Тулузов, И.Г. Теоретически исследовано влияние точечных дефектов на проводимость баллистических микроконтактов. Показано, что размерная зависимость сопротивления R(d) определяется соотношением между диамет­ром контакта d и характерным расстоянием r₀ между примесями. При d <= r₀ величина R(d) чувствительна к пространственному расположению рассеивателей в приконтактной области. Проведено численное моделиро­вание проводимости контакта для случайных реализаций распределения примесей. Теоретично досліджено вплив точкових дефектів на провідність балістичних мікроконтактів. Показано, що розмірна залежність опору R(d) визначаться співвідношенням між діаметром контакту d та характерним відстанням r₀ між домішками. При d <= r₀ величина R (d ) чутлива до просторового розташування розсіювателі» у приконтактній області. Проведено чисельне моделювання провідності контакту для випадкових реалізацій розподілу домішків. The effect of point defects on conductivity of ballis­tic point contacts is studied theoretically. It is shown that the size dependence of resistance, R(d) is defined by the ratio between contact diameter (I and impurity-impurity separation r₀. For d <= r₀, the value of R(d) is sensitive to spatial arrangement of stutterers in the near-contact region. Numerical simulation of point contact conductivity is made for a random distribution of impurities. 1995 Article Размерный эффект в сопротивлении микроконтакта, содержащего точечные дефекты / Ю.А. Колесниченко, А.Н. Омельянчук, И.Г. Тулузов // Физика низких температур. — 1995. — Т. 21, № 8. — С. 851-855. — Бібліогр.: 11 назв. — рос. 0132-6414 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/174746 538.9 ru Физика низких температур Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
description Теоретически исследовано влияние точечных дефектов на проводимость баллистических микроконтактов. Показано, что размерная зависимость сопротивления R(d) определяется соотношением между диамет­ром контакта d и характерным расстоянием r₀ между примесями. При d <= r₀ величина R(d) чувствительна к пространственному расположению рассеивателей в приконтактной области. Проведено численное моделиро­вание проводимости контакта для случайных реализаций распределения примесей.
format Article
author Колесниченко, Ю.А.
Омельянчук, А.Н.
Тулузов, И.Г.
spellingShingle Колесниченко, Ю.А.
Омельянчук, А.Н.
Тулузов, И.Г.
Размерный эффект в сопротивлении микроконтакта, содержащего точечные дефекты
Физика низких температур
author_facet Колесниченко, Ю.А.
Омельянчук, А.Н.
Тулузов, И.Г.
author_sort Колесниченко, Ю.А.
title Размерный эффект в сопротивлении микроконтакта, содержащего точечные дефекты
title_short Размерный эффект в сопротивлении микроконтакта, содержащего точечные дефекты
title_full Размерный эффект в сопротивлении микроконтакта, содержащего точечные дефекты
title_fullStr Размерный эффект в сопротивлении микроконтакта, содержащего точечные дефекты
title_full_unstemmed Размерный эффект в сопротивлении микроконтакта, содержащего точечные дефекты
title_sort размерный эффект в сопротивлении микроконтакта, содержащего точечные дефекты
publisher Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
publishDate 1995
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/174746
citation_txt Размерный эффект в сопротивлении микроконтакта, содержащего точечные дефекты / Ю.А. Колесниченко, А.Н. Омельянчук, И.Г. Тулузов // Физика низких температур. — 1995. — Т. 21, № 8. — С. 851-855. — Бібліогр.: 11 назв. — рос.
series Физика низких температур
work_keys_str_mv AT kolesničenkoûa razmernyjéffektvsoprotivleniimikrokontaktasoderžaŝegotočečnyedefekty
AT omelʹânčukan razmernyjéffektvsoprotivleniimikrokontaktasoderžaŝegotočečnyedefekty
AT tuluzovig razmernyjéffektvsoprotivleniimikrokontaktasoderžaŝegotočečnyedefekty
first_indexed 2023-10-18T22:37:03Z
last_indexed 2023-10-18T22:37:03Z
_version_ 1796155986064441344