Электронная фокусировка в слоистых проводниках
Теоретически исследованы эффекты электронной фокусировки (ЭФ) в слоистом металле, ферми-по- верхность которого представляет собой слабо гофрированный цилиндр. Предсказаны особенности в зависи мости сигнала на измерительном контакте от магнитного поля, отсутствующие в изотропных проводниках. По...
Збережено в:
| Дата: | 1995 |
|---|---|
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
1995
|
| Назва видання: | Физика низких температур |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/174792 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Электронная фокусировка в слоистых проводниках / Ю.А. Колесниченко, Бедасса Тесгера, В.И. Гришаев // Физика низких температур. — 1995. — Т. 21, № 10. — С. 1049-1056. — Бібліогр.: 15 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Резюме: | Теоретически исследованы эффекты электронной фокусировки (ЭФ) в слоистом металле, ферми-по-
верхность которого представляет собой слабо гофрированный цилиндр. Предсказаны особенности в зависи
мости сигнала на измерительном контакте от магнитного поля, отсутствующие в изотропных проводниках.
Показано, что форма линий продольной и поперечной ЭФ чрезвычайно чувствительна к соотношению
между диаметром микроконтакта и малым размером электронной траектории в перпендикулярном слоям
направлении. |
|---|