The microwave measurements of (N₂)хАr₁₋x solid solutions
A full range of solid solutions (N₂)хАr₁₋x (0 < x <1) have been examined with an x-band microwave dielectrometer. The real part of the permittivity e' versus temperature T for this non-polar system has been measured with a high accuracy (10⁻⁶) at temperatures between 1.5-75 K. A comparati...
Збережено в:
| Видавець: | Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України |
|---|---|
| Дата: | 1995 |
| Автори: | , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
1995
|
| Назва видання: | Физика низких температур |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/175104 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Цитувати: | The microwave measurements of (N₂)хАr₁₋x solid solutions / W. Kempinski, J. Stankowski // Физика низких температур. — 1995. — Т. 21, № 1. — С. 97-101. — Бібліогр.: 41 назв. — англ. |
Репозиторії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Резюме: | A full range of solid solutions (N₂)хАr₁₋x (0 < x <1) have been examined with an x-band microwave dielectrometer. The real part of the permittivity e' versus temperature T for this non-polar system has been measured with a high accuracy (10⁻⁶) at temperatures between 1.5-75 K. A comparative (x, T) phase diagram is constructed with a β-α structural phase transition and the problem of transition to the orientational glass is discussed. |
|---|