Свидетельства ангстремной толщины изолированных сверхпроводящих слоев ВТСП

Свидетельства ангстремной толщины изолированных сверхпроводящих слоев ВТСП

Проведена оценка эффективной толщины сверхпроводящих слоев YBa₂Cг₃Ox. Объяснена аномально высокая разница между среднеполевой критической температурой и температурой перехода Березинского— Костерлица—Таулесса (БКТ) в однослойных пленках, Y/Pr сверхрешетках и поликристаллических образ­ цах с разрушен...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Видавець:Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
Дата:1996
Автор: Михеенко, П.Н.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 1996
Назва видання:Физика низких температур
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/175621
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Цитувати:Свидетельства ангстремной толщины изолированных сверхпроводящих слоев ВТСП / П.Н. Михеенко // Физика низких температур. — 1996. — Т. 22, № 6. — С. 632-634. — Бібліогр.: 28 назв. — рос.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-175621
record_format dspace
spelling irk-123456789-1756212021-02-03T01:30:40Z Свидетельства ангстремной толщины изолированных сверхпроводящих слоев ВТСП Михеенко, П.Н. Проведена оценка эффективной толщины сверхпроводящих слоев YBa₂Cг₃Ox. Объяснена аномально высокая разница между среднеполевой критической температурой и температурой перехода Березинского— Костерлица—Таулесса (БКТ) в однослойных пленках, Y/Pr сверхрешетках и поликристаллических образ­ цах с разрушенными СuО₂-плоскостями. Прослежена динамика температуры БКТ-перехода с изменением числа наслаиваемых друг на друга элементарных ячеек YBa₂Cг₃Ox. Получена пригодная для ВТСП форму­ла, связывающая темпера гуру БКТ-перехода с сопротивлением образцов на квадрат площади. Проведено оцінку ефективної товщини надпровідних шарів YBa₂Cг₃Ox. Пояснено аномально високу різницю між середньопольовою критичною температурою і температурою переходу Березинського—Костерліца—Таулесса (БКТ) в одношарових плівках, Y/Pr надгратках і полікристалічних зразках зі зруйновани­ми площинами CuO₂. Простежено динаміку температури БКТ при зміні кількості елементарних комірок YBa₂Cг₃Ox, які нашаровуються одна на одну. Отримано придатну для ВТНП формулу, що пов’язує температуру БКТ переходу з опором зразків на квадрат площини. The effective thickness of YBa₂Cг₃Ox supercon­ducting layers is evaluated. The abnormally large dif­ference between the mean-field critical temperature and the temperature of Berezinskii—Kocterlitz—Thouless (BKT) transition in one-unit-cell films, Y/Pr superlat­tices and polycrystal samples with destroyed CuO₂ planes, is explained. The dynamics of the BKT tem­perature with varying the number of the layered YBa₂Cг₃Ox unit cells is described. An expression that relates the BKT transition temperature to sample resistance per square area and is appropriate for HTSC is derived. 1996 Article Свидетельства ангстремной толщины изолированных сверхпроводящих слоев ВТСП / П.Н. Михеенко // Физика низких температур. — 1996. — Т. 22, № 6. — С. 632-634. — Бібліогр.: 28 назв. — рос. 0132-6414 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/175621 ru Физика низких температур Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
description Проведена оценка эффективной толщины сверхпроводящих слоев YBa₂Cг₃Ox. Объяснена аномально высокая разница между среднеполевой критической температурой и температурой перехода Березинского— Костерлица—Таулесса (БКТ) в однослойных пленках, Y/Pr сверхрешетках и поликристаллических образ­ цах с разрушенными СuО₂-плоскостями. Прослежена динамика температуры БКТ-перехода с изменением числа наслаиваемых друг на друга элементарных ячеек YBa₂Cг₃Ox. Получена пригодная для ВТСП форму­ла, связывающая темпера гуру БКТ-перехода с сопротивлением образцов на квадрат площади.
format Article
author Михеенко, П.Н.
spellingShingle Михеенко, П.Н.
Свидетельства ангстремной толщины изолированных сверхпроводящих слоев ВТСП
Физика низких температур
author_facet Михеенко, П.Н.
author_sort Михеенко, П.Н.
title Свидетельства ангстремной толщины изолированных сверхпроводящих слоев ВТСП
title_short Свидетельства ангстремной толщины изолированных сверхпроводящих слоев ВТСП
title_full Свидетельства ангстремной толщины изолированных сверхпроводящих слоев ВТСП
title_fullStr Свидетельства ангстремной толщины изолированных сверхпроводящих слоев ВТСП
title_full_unstemmed Свидетельства ангстремной толщины изолированных сверхпроводящих слоев ВТСП
title_sort свидетельства ангстремной толщины изолированных сверхпроводящих слоев втсп
publisher Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
publishDate 1996
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/175621
citation_txt Свидетельства ангстремной толщины изолированных сверхпроводящих слоев ВТСП / П.Н. Михеенко // Физика низких температур. — 1996. — Т. 22, № 6. — С. 632-634. — Бібліогр.: 28 назв. — рос.
series Физика низких температур
work_keys_str_mv AT miheenkopn svidetelʹstvaangstremnojtolŝinyizolirovannyhsverhprovodâŝihsloevvtsp
first_indexed 2023-10-18T22:39:16Z
last_indexed 2023-10-18T22:39:16Z
_version_ 1796156086659579904

Схожі ресурси