Свидетельства ангстремной толщины изолированных сверхпроводящих слоев ВТСП
Проведена оценка эффективной толщины сверхпроводящих слоев YBa₂Cг₃Ox. Объяснена аномально высокая разница между среднеполевой критической температурой и температурой перехода Березинского— Костерлица—Таулесса (БКТ) в однослойных пленках, Y/Pr сверхрешетках и поликристаллических образ цах с разрушен...
Збережено в:
Дата: | 1996 |
---|---|
Автор: | |
Формат: | Стаття |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
1996
|
Назва видання: | Физика низких температур |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/175621 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Свидетельства ангстремной толщины изолированных сверхпроводящих слоев ВТСП / П.Н. Михеенко // Физика низких температур. — 1996. — Т. 22, № 6. — С. 632-634. — Бібліогр.: 28 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraineid |
irk-123456789-175621 |
---|---|
record_format |
dspace |
spelling |
irk-123456789-1756212021-02-03T01:30:40Z Свидетельства ангстремной толщины изолированных сверхпроводящих слоев ВТСП Михеенко, П.Н. Проведена оценка эффективной толщины сверхпроводящих слоев YBa₂Cг₃Ox. Объяснена аномально высокая разница между среднеполевой критической температурой и температурой перехода Березинского— Костерлица—Таулесса (БКТ) в однослойных пленках, Y/Pr сверхрешетках и поликристаллических образ цах с разрушенными СuО₂-плоскостями. Прослежена динамика температуры БКТ-перехода с изменением числа наслаиваемых друг на друга элементарных ячеек YBa₂Cг₃Ox. Получена пригодная для ВТСП формула, связывающая темпера гуру БКТ-перехода с сопротивлением образцов на квадрат площади. Проведено оцінку ефективної товщини надпровідних шарів YBa₂Cг₃Ox. Пояснено аномально високу різницю між середньопольовою критичною температурою і температурою переходу Березинського—Костерліца—Таулесса (БКТ) в одношарових плівках, Y/Pr надгратках і полікристалічних зразках зі зруйнованими площинами CuO₂. Простежено динаміку температури БКТ при зміні кількості елементарних комірок YBa₂Cг₃Ox, які нашаровуються одна на одну. Отримано придатну для ВТНП формулу, що пов’язує температуру БКТ переходу з опором зразків на квадрат площини. The effective thickness of YBa₂Cг₃Ox superconducting layers is evaluated. The abnormally large difference between the mean-field critical temperature and the temperature of Berezinskii—Kocterlitz—Thouless (BKT) transition in one-unit-cell films, Y/Pr superlattices and polycrystal samples with destroyed CuO₂ planes, is explained. The dynamics of the BKT temperature with varying the number of the layered YBa₂Cг₃Ox unit cells is described. An expression that relates the BKT transition temperature to sample resistance per square area and is appropriate for HTSC is derived. 1996 Article Свидетельства ангстремной толщины изолированных сверхпроводящих слоев ВТСП / П.Н. Михеенко // Физика низких температур. — 1996. — Т. 22, № 6. — С. 632-634. — Бібліогр.: 28 назв. — рос. 0132-6414 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/175621 ru Физика низких температур Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України |
institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
collection |
DSpace DC |
language |
Russian |
description |
Проведена оценка эффективной толщины сверхпроводящих слоев YBa₂Cг₃Ox. Объяснена аномально высокая разница между среднеполевой критической температурой и температурой перехода Березинского— Костерлица—Таулесса (БКТ) в однослойных пленках, Y/Pr сверхрешетках и поликристаллических образ цах с разрушенными СuО₂-плоскостями. Прослежена динамика температуры БКТ-перехода с изменением числа наслаиваемых друг на друга элементарных ячеек YBa₂Cг₃Ox. Получена пригодная для ВТСП формула, связывающая темпера гуру БКТ-перехода с сопротивлением образцов на квадрат площади. |
format |
Article |
author |
Михеенко, П.Н. |
spellingShingle |
Михеенко, П.Н. Свидетельства ангстремной толщины изолированных сверхпроводящих слоев ВТСП Физика низких температур |
author_facet |
Михеенко, П.Н. |
author_sort |
Михеенко, П.Н. |
title |
Свидетельства ангстремной толщины изолированных сверхпроводящих слоев ВТСП |
title_short |
Свидетельства ангстремной толщины изолированных сверхпроводящих слоев ВТСП |
title_full |
Свидетельства ангстремной толщины изолированных сверхпроводящих слоев ВТСП |
title_fullStr |
Свидетельства ангстремной толщины изолированных сверхпроводящих слоев ВТСП |
title_full_unstemmed |
Свидетельства ангстремной толщины изолированных сверхпроводящих слоев ВТСП |
title_sort |
свидетельства ангстремной толщины изолированных сверхпроводящих слоев втсп |
publisher |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України |
publishDate |
1996 |
url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/175621 |
citation_txt |
Свидетельства ангстремной толщины изолированных сверхпроводящих слоев ВТСП / П.Н. Михеенко // Физика низких температур. — 1996. — Т. 22, № 6. — С. 632-634. — Бібліогр.: 28 назв. — рос. |
series |
Физика низких температур |
work_keys_str_mv |
AT miheenkopn svidetelʹstvaangstremnojtolŝinyizolirovannyhsverhprovodâŝihsloevvtsp |
first_indexed |
2023-10-18T22:39:16Z |
last_indexed |
2023-10-18T22:39:16Z |
_version_ |
1796156086659579904 |