Корреляции низкотемпературных аномалий микропластичности со структурными превращениями в кристаллах С₆₀
На кристаллах особо чистого С₆₀ изучены решеточная структура, микротвердость и системы легкой) скольжения в температурном интервале 30-290 К, включающем фазовый переход ГЦК -> ПК с Тс = 260 К и область существования ориентационного стекла Т < 100 К. Зарегистрировано ступенчатое изменение парам...
Збережено в:
Дата: | 1995 |
---|---|
Автори: | , , , , , , , , |
Формат: | Стаття |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
1995
|
Назва видання: | Физика низких температур |
Теми: | |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/175749 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Корреляции низкотемпературных аномалий микропластичности со структурными превращениями в кристаллах С₆₀ / Л.С. Фоменко, В.Д. Нацик, С.В. Лубенец, В.Г. Лирцман, Н.А. Аксенова, А.П. Исакина, А.И. Прохватилов, М.А. Стржемечный, Р.С. Руофф // Физика низких температур. — 1995. — Т. 21, № 4. — С. 465-468. — Бібліогр.: 18 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineРезюме: | На кристаллах особо чистого С₆₀ изучены решеточная структура, микротвердость и системы легкой) скольжения в температурном интервале 30-290 К, включающем фазовый переход ГЦК -> ПК с Тс = 260 К и область существования ориентационного стекла Т < 100 К. Зарегистрировано ступенчатое изменение параметра решетки и микротвердости при переходе через Тс и образование вблизи отпечатка индентора линий скольжения в обеих фазах. Показано, что действующая при комнатной температуре в ГПК фазе система скольжения <110>{111} сохраняет активность и ниже Тс в ПК фазе. В области формирования ориентационного стекла обнаружена аномалия в виде излома на температурной зависимости микротвсрдости, которая коррелирует со слабой аномалией на температурной зависимости параметра решетки. Сформулированы предположения о характере движения дислокаций в кристаллах С₆₀, позволяющие объяснить наблюдаемые особенности микропластичности. |
---|