О возможном бозежидкостном механизме возникновения СП состояния в ВТСП соединениях

Из расчетов электронной структуры кластеров кристалла YBaCuO методом CNDO следует, что при уменьшении энергии кулоновского отталкивания d-электронов ионов меди g на 0,2 эВ происходит электронная перестройка ионов CuO2 плоскостей вида Cu²+, O²- -> Cu¹+, O, O²-. Причиной возникновения волны зарядов...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:1996
Автор: Амелин, И.И.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 1996
Назва видання:Физика низких температур
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/176131
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:О возможном бозежидкостном механизме возникновения СП состояния в ВТСП соединениях / И.И. Амелин // Физика низких температур. — 1996. — Т. 22, № 5. — С. 539-542. — Бібліогр.: 23 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-176131
record_format dspace
spelling irk-123456789-1761312021-02-04T01:27:46Z О возможном бозежидкостном механизме возникновения СП состояния в ВТСП соединениях Амелин, И.И. Специальный выпуск Международная конференция "Сверхпроводимость. Физические аспекты" Из расчетов электронной структуры кластеров кристалла YBaCuO методом CNDO следует, что при уменьшении энергии кулоновского отталкивания d-электронов ионов меди g на 0,2 эВ происходит электронная перестройка ионов CuO2 плоскостей вида Cu²+, O²- -> Cu¹+, O, O²-. Причиной возникновения волны зарядовой плотности (ВЗП) является, по-видимому, наличие реакции диспропорционирования 2О-¹ -> O + O², выполнение условия Шубина—Вонсовского, незначительное различие параметров а и b элементарной ячейки, низкая степень вырождения орбиталей СиО₂-плоскости. Одновременно с образованием ВЗП происходит уменьшение величины запрещенной зоны до значения ДЕ = 0,04 эВ. Это значение ΔЕ соответствует состоянию СиО₂-плоскости с локальными парами. Малое значение щели кластера позволяет предположить, что в металлическом состоянии СиО₂-плоскости кристаллов имеют в р-подсистеме ВЗП. Таким образом, в образовании СП-состояния в ВТСП, по-видимому, имеют определенное значение электрон-электронные взаимодействия, обеспечивающие высокие Тс. Із розрахунків електронної структури кластерів кристала YBaCuO методом CNDO виходить, що при зменшенні енергії кулонівського відштовхування d-електронів іонів міді g на 0,2 еВ відбувається електронна перебудова іонів СиО₂-площин виду Cu²+, O²- -> Cu¹+, O, O²-. Причиною виникнення хвилі зарядової густини (ВЗГ) є, мабуть, наявність реакції диспропорціонування 2О-1 -> O + O²-, виконання умови Шу-біна—Вонсовського, невелика різниця параметрів а і b елементарної комірки, низька ступінь виродження орбіталей СиO₂-площини. Одночасно з утворенням ВЗГ відбувається зменшення величини забороненої зони до значення ΔЕ = 0,04 еВ. Це значення ΔЕ відповідає стану СuО₂-площини з локальними парами. Мале значення щілини кластера дозволяє припустити, що в металевому стані СиО₂-площини кристалів мають в p-підсистемі ВЗГ. Таким чином, в утворенні НП стану в ВТНП, можливо, має певне значення електрон-елек-тронна взаємодія, яка забезпечує високі Tc. The cluster electron structure of the YBaCuO crystal is calculated by the CNDO method. It turns out that the decrease by 0.2 eV in the Coulomb repulsion of the d-electrons g in copper ions causes the changes in the electron structure of the ions in the CuO2 planes of the following type Cu²+, O²- -> Cu²+, O, O²-. The appearance of the charge density wave (CDW) is supposed to be caused by the 20-¹ -> O + O²-disproportion reaction, the fulfilment of Shubin-Vonsovsky condition, a slight difference between the a and b parameters of the elementary cell, and a low degree of the orbitals degeneration in the Cu0₂ planes. The formation of the CDW is accompanied by the decrease in the value of the prohibited zone down to ΔE ≈ 0.04 eV. That corresponds to the condition of the CuO₂ planes with local pairs. The insignificant ΔE value of the cluster suggests that the metal state of CuO₂ crystal planes has the CDW in the p-subsystem. Thus, it may be concluded that electron-electron interactions providing high Tc contribute into a formation of the superconducting state in high - Tc. superconductors. 1996 Article О возможном бозежидкостном механизме возникновения СП состояния в ВТСП соединениях / И.И. Амелин // Физика низких температур. — 1996. — Т. 22, № 5. — С. 539-542. — Бібліогр.: 23 назв. — рос. 0132-6414 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/176131 ru Физика низких температур Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
topic Специальный выпуск Международная конференция "Сверхпроводимость. Физические аспекты"
Специальный выпуск Международная конференция "Сверхпроводимость. Физические аспекты"
spellingShingle Специальный выпуск Международная конференция "Сверхпроводимость. Физические аспекты"
Специальный выпуск Международная конференция "Сверхпроводимость. Физические аспекты"
Амелин, И.И.
О возможном бозежидкостном механизме возникновения СП состояния в ВТСП соединениях
Физика низких температур
description Из расчетов электронной структуры кластеров кристалла YBaCuO методом CNDO следует, что при уменьшении энергии кулоновского отталкивания d-электронов ионов меди g на 0,2 эВ происходит электронная перестройка ионов CuO2 плоскостей вида Cu²+, O²- -> Cu¹+, O, O²-. Причиной возникновения волны зарядовой плотности (ВЗП) является, по-видимому, наличие реакции диспропорционирования 2О-¹ -> O + O², выполнение условия Шубина—Вонсовского, незначительное различие параметров а и b элементарной ячейки, низкая степень вырождения орбиталей СиО₂-плоскости. Одновременно с образованием ВЗП происходит уменьшение величины запрещенной зоны до значения ДЕ = 0,04 эВ. Это значение ΔЕ соответствует состоянию СиО₂-плоскости с локальными парами. Малое значение щели кластера позволяет предположить, что в металлическом состоянии СиО₂-плоскости кристаллов имеют в р-подсистеме ВЗП. Таким образом, в образовании СП-состояния в ВТСП, по-видимому, имеют определенное значение электрон-электронные взаимодействия, обеспечивающие высокие Тс.
format Article
author Амелин, И.И.
author_facet Амелин, И.И.
author_sort Амелин, И.И.
title О возможном бозежидкостном механизме возникновения СП состояния в ВТСП соединениях
title_short О возможном бозежидкостном механизме возникновения СП состояния в ВТСП соединениях
title_full О возможном бозежидкостном механизме возникновения СП состояния в ВТСП соединениях
title_fullStr О возможном бозежидкостном механизме возникновения СП состояния в ВТСП соединениях
title_full_unstemmed О возможном бозежидкостном механизме возникновения СП состояния в ВТСП соединениях
title_sort о возможном бозежидкостном механизме возникновения сп состояния в втсп соединениях
publisher Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
publishDate 1996
topic_facet Специальный выпуск Международная конференция "Сверхпроводимость. Физические аспекты"
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/176131
citation_txt О возможном бозежидкостном механизме возникновения СП состояния в ВТСП соединениях / И.И. Амелин // Физика низких температур. — 1996. — Т. 22, № 5. — С. 539-542. — Бібліогр.: 23 назв. — рос.
series Физика низких температур
work_keys_str_mv AT amelinii ovozmožnombozežidkostnommehanizmevozniknoveniâspsostoâniâvvtspsoedineniâh
first_indexed 2023-10-18T22:40:28Z
last_indexed 2023-10-18T22:40:28Z
_version_ 1796156138128932864