Температурная зависимость дислокационной компоненты дефекта модуля в деформированных ОЦК металлах

Получены экспериментальные данные о температурных зависимостях дислокационной компоненты дефекта модуля в ряде ОЦК металлов (Mo, Fe, Nb) различной чистоты и ориентации. Измерения проведены на частотах ω/ 2π ≈ 90 кГц в интервале 6-300 К. Установлено, что в монокристаллах молибдена и железа дефе...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:1997
Автор: Паль-Валь, П.П.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 1997
Назва видання:Физика низких температур
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/176337
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Температурная зависимость дислокационной компоненты дефекта модуля в деформированных ОЦК металлах / П.П. Паль-Валь // Физика низких температур. — 1997. — Т. 23, № 11. — С. 1250-1255. — Бібліогр.: 24 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Получены экспериментальные данные о температурных зависимостях дислокационной компоненты дефекта модуля в ряде ОЦК металлов (Mo, Fe, Nb) различной чистоты и ориентации. Измерения проведены на частотах ω/ 2π ≈ 90 кГц в интервале 6-300 К. Установлено, что в монокристаллах молибдена и железа дефект модуля монотонно увеличивается с ростом температуры, начиная с 6 К. Рост дефекта модуля усиливается в интервалах температур, в которых на температурных зависимостях поглощения звука ранее были обнаружены релаксационные пики. Показано, что такое поведение дефекта модуля обусловлено действием в данной области температур ряда дислокационных термоактивированных процессов с широким распределением активационных параметров. В отличие от Мо и Fe в ниобии вплоть до 170-200 К отсутствует зависимость дефекта модуля от температуры, однако при более высоких температурах наблюдается его резкий рост. Наличие протяженной области температур, где дефект модуля постоянен, свидетельствует о том, что термоактивированные процессы с временами релаксации близкими к обратной круговой частоте колебаний 1 / ω в этом температурном интервале или отсутствуют, или в значительной мере подавлены.