Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности
Получены экспериментальные зависимости критической температуры сверхпроводящего перехода от толщины пленок ниобия, VN, TaN и YBa₂Cu₃O₇₋x. Показано, что в сверхпроводниках с малой длиной когерентности определенную роль в понижении критической температуры наряду с эффектом близости могут играть флукту...
Збережено в:
| Дата: | 1998 |
|---|---|
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
1998
|
| Назва видання: | Физика низких температур |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/176569 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности / В.Г. Прохоров // Физика низких температур. — 1998. — Т. 24, № 6. — С. 544-548. — Бібліогр.: 23 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-176569 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-1765692021-02-06T01:26:55Z Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности Прохоров, В.Г. Свеpхпpоводимость, в том числе высокотемпеpатуpная Получены экспериментальные зависимости критической температуры сверхпроводящего перехода от толщины пленок ниобия, VN, TaN и YBa₂Cu₃O₇₋x. Показано, что в сверхпроводниках с малой длиной когерентности определенную роль в понижении критической температуры наряду с эффектом близости могут играть флуктуации электромагнитного поля и параметра порядка сверхпроводящей фазы. Одержано експериментальні залежності критичної температури надпровідного переходу від товщини плівок ніобію, VN, TaN та YBa₂Cu₃O₇₋x. Показано, що в надпровідниках з малою довжиною когерентності певну роль у зниженні критичної температури нарівні з ефектом близькості можуть грати флуктуації електромагнітного поля і параметра надпровідного порядку. The dependence of the superconducting transition temperature on the thickness of films of niobium, VN, TaN, and YBa₂Cu₃O₇₋x are determined experimentally. It is shown that, in addition to the proximity effect, the fluctuations of the electromagnetic field and order parameter of the superconducting phase may also play a significant role in superconductors with a small coherence length. 1998 Article Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности / В.Г. Прохоров // Физика низких температур. — 1998. — Т. 24, № 6. — С. 544-548. — Бібліогр.: 23 назв. — рос. 0132-6414 PACS: 74.20.De, 74.72.Bk http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/176569 ru Физика низких температур Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
Russian |
| topic |
Свеpхпpоводимость, в том числе высокотемпеpатуpная Свеpхпpоводимость, в том числе высокотемпеpатуpная |
| spellingShingle |
Свеpхпpоводимость, в том числе высокотемпеpатуpная Свеpхпpоводимость, в том числе высокотемпеpатуpная Прохоров, В.Г. Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности Физика низких температур |
| description |
Получены экспериментальные зависимости критической температуры сверхпроводящего перехода от толщины пленок ниобия, VN, TaN и YBa₂Cu₃O₇₋x. Показано, что в сверхпроводниках с малой длиной когерентности определенную роль в понижении критической температуры наряду с эффектом близости могут играть флуктуации электромагнитного поля и параметра порядка сверхпроводящей фазы. |
| format |
Article |
| author |
Прохоров, В.Г. |
| author_facet |
Прохоров, В.Г. |
| author_sort |
Прохоров, В.Г. |
| title |
Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности |
| title_short |
Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности |
| title_full |
Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности |
| title_fullStr |
Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности |
| title_full_unstemmed |
Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности |
| title_sort |
зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности |
| publisher |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України |
| publishDate |
1998 |
| topic_facet |
Свеpхпpоводимость, в том числе высокотемпеpатуpная |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/176569 |
| citation_txt |
Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности / В.Г. Прохоров // Физика низких температур. — 1998. — Т. 24, № 6. — С. 544-548. — Бібліогр.: 23 назв. — рос. |
| series |
Физика низких температур |
| work_keys_str_mv |
AT prohorovvg zavisimostʹkritičeskojtemperaturyperehodaottolŝinysverhprovodâŝihplenoksrazličnymidlinamikogerentnosti |
| first_indexed |
2023-10-18T22:39:29Z |
| last_indexed |
2023-10-18T22:39:29Z |
| _version_ |
1796156084095811584 |