Сравнительное исследование характеристик реальной структуры нанокристаллического сфалеритного нитрида бора методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии
Методами рентгеновской дифрактометрии (РД) и просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) исследована структура сфалеритного нитрида бора, полученного с помощью высокотемпературного ударного сжатия турбостратного BN. Показано, что синтезированный в ударных волнах кубический BN имеет нанокристалличес...
Збережено в:
Дата: | 2008 |
---|---|
Автори: | , , |
Формат: | Стаття |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України
2008
|
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/17668 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Сравнительное исследование характеристик реальной структуры нанокристаллического сфалеритного нитрида бора методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии / А.И. Даниленко, А.В. Курдюмов, В.Ф. Бритун // Электронная микроскопия и прочность материалов: Сб. научн . тр. — К.: ІПМ НАН України, 2008. — Вип. 15. — С. 120-125. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineРезюме: | Методами рентгеновской дифрактометрии (РД) и просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) исследована структура сфалеритного нитрида бора, полученного с помощью высокотемпературного ударного сжатия турбостратного BN. Показано, что синтезированный в ударных волнах кубический BN имеет нанокристаллическое строение и характеризуется высоким уровнем микродеформации решетки <е^2>^1/2. По данным РД, кристаллиты BNсф имеют средние размеры 3,5―7,2 нм, а уровень микродеформации достигает <е^2>^1/2 = 15% в направлении <110>. По данным ПЭМ, распределение зерен по объемам имеет два максимума. Увеличенный параметр сфалеритной решетки обусловлен малым размером зерен. |
---|