Сравнительное исследование характеристик реальной структуры нанокристаллического сфалеритного нитрида бора методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии

Методами рентгеновской дифрактометрии (РД) и просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) исследована структура сфалеритного нитрида бора, полученного с помощью высокотемпературного ударного сжатия турбостратного BN. Показано, что синтезированный в ударных волнах кубический BN имеет нанокристалличес...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2008
Автори: Даниленко, А.И., Курдюмов, А.В., Бритун, В.Ф.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України 2008
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/17668
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Сравнительное исследование характеристик реальной структуры нанокристаллического сфалеритного нитрида бора методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии / А.И. Даниленко, А.В. Курдюмов, В.Ф. Бритун // Электронная микроскопия и прочность материалов: Сб. научн . тр. — К.: ІПМ НАН України, 2008. — Вип. 15. — С. 120-125. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-17668
record_format dspace
spelling irk-123456789-176682011-03-06T12:03:42Z Сравнительное исследование характеристик реальной структуры нанокристаллического сфалеритного нитрида бора методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии Даниленко, А.И. Курдюмов, А.В. Бритун, В.Ф. Методами рентгеновской дифрактометрии (РД) и просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) исследована структура сфалеритного нитрида бора, полученного с помощью высокотемпературного ударного сжатия турбостратного BN. Показано, что синтезированный в ударных волнах кубический BN имеет нанокристаллическое строение и характеризуется высоким уровнем микродеформации решетки <е^2>^1/2. По данным РД, кристаллиты BNсф имеют средние размеры 3,5―7,2 нм, а уровень микродеформации достигает <е^2>^1/2 = 15% в направлении <110>. По данным ПЭМ, распределение зерен по объемам имеет два максимума. Увеличенный параметр сфалеритной решетки обусловлен малым размером зерен. 2008 Article Сравнительное исследование характеристик реальной структуры нанокристаллического сфалеритного нитрида бора методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии / А.И. Даниленко, А.В. Курдюмов, В.Ф. Бритун // Электронная микроскопия и прочность материалов: Сб. научн . тр. — К.: ІПМ НАН України, 2008. — Вип. 15. — С. 120-125. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. XXXX-0048 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/17668 548.3:539.2:533.951 ru Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
description Методами рентгеновской дифрактометрии (РД) и просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) исследована структура сфалеритного нитрида бора, полученного с помощью высокотемпературного ударного сжатия турбостратного BN. Показано, что синтезированный в ударных волнах кубический BN имеет нанокристаллическое строение и характеризуется высоким уровнем микродеформации решетки <е^2>^1/2. По данным РД, кристаллиты BNсф имеют средние размеры 3,5―7,2 нм, а уровень микродеформации достигает <е^2>^1/2 = 15% в направлении <110>. По данным ПЭМ, распределение зерен по объемам имеет два максимума. Увеличенный параметр сфалеритной решетки обусловлен малым размером зерен.
format Article
author Даниленко, А.И.
Курдюмов, А.В.
Бритун, В.Ф.
spellingShingle Даниленко, А.И.
Курдюмов, А.В.
Бритун, В.Ф.
Сравнительное исследование характеристик реальной структуры нанокристаллического сфалеритного нитрида бора методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии
author_facet Даниленко, А.И.
Курдюмов, А.В.
Бритун, В.Ф.
author_sort Даниленко, А.И.
title Сравнительное исследование характеристик реальной структуры нанокристаллического сфалеритного нитрида бора методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии
title_short Сравнительное исследование характеристик реальной структуры нанокристаллического сфалеритного нитрида бора методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии
title_full Сравнительное исследование характеристик реальной структуры нанокристаллического сфалеритного нитрида бора методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии
title_fullStr Сравнительное исследование характеристик реальной структуры нанокристаллического сфалеритного нитрида бора методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии
title_full_unstemmed Сравнительное исследование характеристик реальной структуры нанокристаллического сфалеритного нитрида бора методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии
title_sort сравнительное исследование характеристик реальной структуры нанокристаллического сфалеритного нитрида бора методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии
publisher Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України
publishDate 2008
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/17668
citation_txt Сравнительное исследование характеристик реальной структуры нанокристаллического сфалеритного нитрида бора методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии / А.И. Даниленко, А.В. Курдюмов, В.Ф. Бритун // Электронная микроскопия и прочность материалов: Сб. научн . тр. — К.: ІПМ НАН України, 2008. — Вип. 15. — С. 120-125. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT danilenkoai sravnitelʹnoeissledovanieharakteristikrealʹnojstrukturynanokristalličeskogosfaleritnogonitridaborametodamirentgenovskojdifrakciiiélektronnojmikroskopii
AT kurdûmovav sravnitelʹnoeissledovanieharakteristikrealʹnojstrukturynanokristalličeskogosfaleritnogonitridaborametodamirentgenovskojdifrakciiiélektronnojmikroskopii
AT britunvf sravnitelʹnoeissledovanieharakteristikrealʹnojstrukturynanokristalličeskogosfaleritnogonitridaborametodamirentgenovskojdifrakciiiélektronnojmikroskopii
first_indexed 2023-10-18T17:00:34Z
last_indexed 2023-10-18T17:00:34Z
_version_ 1796140445742399488