Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза

Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:1983
Автори: Васько, А.Т., Циковкин, Е.М., Краснов, Ю.С.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут загальної та неорганічної хімії ім. В.І. Вернадського НАН України 1983
Назва видання:Украинский химический журнал
Теми:
Электрохимия
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/182419
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза / А.Т. Васько, Е.М. Циковкин, Ю.С. Краснов // Украинский химический журнал. — 1983. — Т. 49, № 2. — С. 156-159. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-182419
record_format dspace
spelling irk-123456789-1824192022-01-03T01:26:00Z Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза Васько, А.Т. Циковкин, Е.М. Краснов, Ю.С. Электрохимия 1983 Article Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза / А.Т. Васько, Е.М. Циковкин, Ю.С. Краснов // Украинский химический журнал. — 1983. — Т. 49, № 2. — С. 156-159. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. 0041–6045 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/182419 535.417:541.135:546.23. ru Украинский химический журнал Інститут загальної та неорганічної хімії ім. В.І. Вернадського НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
topic Электрохимия
Электрохимия
spellingShingle Электрохимия
Электрохимия
Васько, А.Т.
Циковкин, Е.М.
Краснов, Ю.С.
Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза
Украинский химический журнал
format Article
author Васько, А.Т.
Циковкин, Е.М.
Краснов, Ю.С.
author_facet Васько, А.Т.
Циковкин, Е.М.
Краснов, Ю.С.
author_sort Васько, А.Т.
title Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза
title_short Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза
title_full Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза
title_fullStr Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза
title_full_unstemmed Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза
title_sort применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок cdse в процессе электролиза
publisher Інститут загальної та неорганічної хімії ім. В.І. Вернадського НАН України
publishDate 1983
topic_facet Электрохимия
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/182419
citation_txt Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза / А.Т. Васько, Е.М. Циковкин, Ю.С. Краснов // Украинский химический журнал. — 1983. — Т. 49, № 2. — С. 156-159. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.
series Украинский химический журнал
work_keys_str_mv AT vasʹkoat primeneniemetodalazernojinterferometriidlâopredeleniâskorostirostatonkihplenokcdsevprocesseélektroliza
AT cikovkinem primeneniemetodalazernojinterferometriidlâopredeleniâskorostirostatonkihplenokcdsevprocesseélektroliza
AT krasnovûs primeneniemetodalazernojinterferometriidlâopredeleniâskorostirostatonkihplenokcdsevprocesseélektroliza
first_indexed 2023-10-18T22:54:36Z
last_indexed 2023-10-18T22:54:36Z
_version_ 1796156752503242752

Схожі ресурси