Modeling the response of a planar silicon detector when measuring the exposure dose rate in the energy range from 5 keV to 10MeV

The main advantages of using silicon semiconductor detectors in dosimetry in comparison with traditional detectors are considered. The shortcomings are analyzed and possible methods for their elimination are proposed. One of the proposed methods makes it possible to increase the efficiency of detect...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2020
Автори: Dubina, V.N., Maslov, N.I., Shlyahov, I.N.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2020
Назва видання:Вопросы атомной науки и техники
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/194575
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Modeling the response of a planar silicon detector when measuring the exposure dose rate in the energy range from 5 keV to 10MeV / V.N. Dubina, N.I. Maslov, I.N. Shlyahov // Problems of atomic science and tecnology. — 2020. — № 5. — С. 105-110. — Бібліогр.: 9 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-194575
record_format dspace
spelling irk-123456789-1945752023-11-27T16:43:13Z Modeling the response of a planar silicon detector when measuring the exposure dose rate in the energy range from 5 keV to 10MeV Dubina, V.N. Maslov, N.I. Shlyahov, I.N. Computing and modelling systems The main advantages of using silicon semiconductor detectors in dosimetry in comparison with traditional detectors are considered. The shortcomings are analyzed and possible methods for their elimination are proposed. One of the proposed methods makes it possible to increase the efficiency of detecting gamma quantum in the energy range 0.1…10MeV. The requirements are formulated to optimize the design of detectors operating in a wide range of dose rates and gamma radiation energies by computer simulation. Mathematical calculations and computer simulations determine the dosimeter design, materials and thicknesses γ–converter. The mechanisms of modeling the absorbed dose in air and ambient dose in silicon detectors with a thickness of 300 μm, sizes (5×5)mm² and (1.8×1.8)mm², in the range of incident γ–ray energies from 5keV to 10 MeV are presented. Розглянуто основні переваги застосування кремнієвих напівпровідникових детекторів у задачах дозиметрії в порівнянні з традиційними детекторами. Проаналізовано недоліки та запропоновані можливі методи їх усунення. Один із запропонованих методів дозволяє збільшити ефективність реєстрації гамма-квантів у діапазоні енергій 0,1…10 МэВ. Сформульовано вимоги, необхідні для оптимізації конструкції детекторів, які працюють у широкому діапазоні потужностей доз і енергії гамма–випромінювання, методом комп’ютерного моделювання. Проведені математичні розрахунки і комп’ютерне моделювання визначають конструкцію дозиметра, матеріали і товщину γ–конвертера. Наводяться механізми моделювання поглиненої дози в повітрі і амбієнтної дози в кремнієвих детекторах товщиною від 300 мкм, розмірами (5×5)мм² и (1,8×1,8)мм², у діапазоні енергій падаючого γ–випромінювання від 5 кеВ до 10 МеВ. Рассмотрены основные преимущества применения кремниевых полупроводниковых детекторов в задачах дозиметрии по сравнению с традиционными детекторами. Проанализированы недостатки и предложены возможные методы их устранения. Один из предложенных методов позволяет увеличить эффективность регистрации гамма-квантов в диапазоне энергий 0,1…10 МэВ. Сформулированы требования, необходимые для оптимизации конструкции детекторов, работающих в широком диапазоне мощностей доз и энергии гамма–излучения, методом компьютерного моделирования. Проведенные математические расчеты и компьютерное моделирование определяют конструкцию дозиметра, материалы и толщину γ–конвертера. Приводятся механизмы моделирования поглощенной дозы в воздухе и амбиентной дозы в кремниевых детекторах толщиной от 300 мкм, размерами (5×5)мм² и (1,8×1,8)мм², в диапазоне энергий падающего γ–излучения от 5 кэВ до 10 МэВ. 2020 Article Modeling the response of a planar silicon detector when measuring the exposure dose rate in the energy range from 5 keV to 10MeV / V.N. Dubina, N.I. Maslov, I.N. Shlyahov // Problems of atomic science and tecnology. — 2020. — № 5. — С. 105-110. — Бібліогр.: 9 назв. — англ. 1562-6016 PACS: 03.65.Pm, 03.65.Ge, 61.80.Mk http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/194575 en Вопросы атомной науки и техники Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language English
topic Computing and modelling systems
Computing and modelling systems
spellingShingle Computing and modelling systems
Computing and modelling systems
Dubina, V.N.
Maslov, N.I.
Shlyahov, I.N.
Modeling the response of a planar silicon detector when measuring the exposure dose rate in the energy range from 5 keV to 10MeV
Вопросы атомной науки и техники
description The main advantages of using silicon semiconductor detectors in dosimetry in comparison with traditional detectors are considered. The shortcomings are analyzed and possible methods for their elimination are proposed. One of the proposed methods makes it possible to increase the efficiency of detecting gamma quantum in the energy range 0.1…10MeV. The requirements are formulated to optimize the design of detectors operating in a wide range of dose rates and gamma radiation energies by computer simulation. Mathematical calculations and computer simulations determine the dosimeter design, materials and thicknesses γ–converter. The mechanisms of modeling the absorbed dose in air and ambient dose in silicon detectors with a thickness of 300 μm, sizes (5×5)mm² and (1.8×1.8)mm², in the range of incident γ–ray energies from 5keV to 10 MeV are presented.
format Article
author Dubina, V.N.
Maslov, N.I.
Shlyahov, I.N.
author_facet Dubina, V.N.
Maslov, N.I.
Shlyahov, I.N.
author_sort Dubina, V.N.
title Modeling the response of a planar silicon detector when measuring the exposure dose rate in the energy range from 5 keV to 10MeV
title_short Modeling the response of a planar silicon detector when measuring the exposure dose rate in the energy range from 5 keV to 10MeV
title_full Modeling the response of a planar silicon detector when measuring the exposure dose rate in the energy range from 5 keV to 10MeV
title_fullStr Modeling the response of a planar silicon detector when measuring the exposure dose rate in the energy range from 5 keV to 10MeV
title_full_unstemmed Modeling the response of a planar silicon detector when measuring the exposure dose rate in the energy range from 5 keV to 10MeV
title_sort modeling the response of a planar silicon detector when measuring the exposure dose rate in the energy range from 5 kev to 10mev
publisher Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
publishDate 2020
topic_facet Computing and modelling systems
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/194575
citation_txt Modeling the response of a planar silicon detector when measuring the exposure dose rate in the energy range from 5 keV to 10MeV / V.N. Dubina, N.I. Maslov, I.N. Shlyahov // Problems of atomic science and tecnology. — 2020. — № 5. — С. 105-110. — Бібліогр.: 9 назв. — англ.
series Вопросы атомной науки и техники
work_keys_str_mv AT dubinavn modelingtheresponseofaplanarsilicondetectorwhenmeasuringtheexposuredoserateintheenergyrangefrom5kevto10mev
AT maslovni modelingtheresponseofaplanarsilicondetectorwhenmeasuringtheexposuredoserateintheenergyrangefrom5kevto10mev
AT shlyahovin modelingtheresponseofaplanarsilicondetectorwhenmeasuringtheexposuredoserateintheenergyrangefrom5kevto10mev
first_indexed 2024-03-31T09:11:57Z
last_indexed 2024-03-31T09:11:57Z
_version_ 1796157963740643328