Features of helium complexes behaviour near the free surface in tungsten
The formation of interstitial atoms by lattice tungsten atoms displacement by clusters of implanted helium, which is accompanied with the appearance of helium-vacancy complexes, was found. The stimulating effect of the free surface on the development of the processes of displacement and dissociation...
Збережено в:
Дата: | 2019 |
---|---|
Автори: | , |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2019
|
Назва видання: | Вопросы атомной науки и техники |
Теми: | |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/194935 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Features of helium complexes behaviour near the free surface in tungsten / I.V. Starchenko, E.V. Sadanov // Problems of atomic science and technology. — 2019. — № 2. — С. 3-6. — Бібліогр.: 21 назв. — англ. |
Репозиторії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraineid |
irk-123456789-194935 |
---|---|
record_format |
dspace |
spelling |
irk-123456789-1949352023-12-01T18:10:15Z Features of helium complexes behaviour near the free surface in tungsten Starchenko, I.V. Sadanov, E.V. Physics of radiation damages and effects in solids The formation of interstitial atoms by lattice tungsten atoms displacement by clusters of implanted helium, which is accompanied with the appearance of helium-vacancy complexes, was found. The stimulating effect of the free surface on the development of the processes of displacement and dissociation of complexes has been revealed. It is shown that this influence is caused by the action of image forces. The depth of the image forces was determined, which was about 2.5 nm. Виявлено формування міжвузельних атомів шляхом витіснення граткових атомів вольфраму кластерами імплантованого гелію, яке супроводжується появою гелій-вакансійних комплексів. Виявлено стимулюючий вплив вільної поверхні на розвиток процесів витіснення і дисоціації комплексів. Показано, що цей вплив викликано дією сил зображення. Визначена глибина дії сил зображення, що склала близько 2,5 нм. Обнаружено образование межузельных атомов путем вытеснения решеточных атомов вольфрама кластерами имплантированного гелия, которое сопровождается появлением гелий-вакaнсионных комплексов. Выявлено стимулирующее влияние свободной поверхности на развитие процессов вытеснения и диссоциации комплексов. Показано, что это влияние вызвано действием сил изображения. Определена глубина действия сил изображения, которая составила около 2,5 нм. 2019 Article Features of helium complexes behaviour near the free surface in tungsten / I.V. Starchenko, E.V. Sadanov // Problems of atomic science and technology. — 2019. — № 2. — С. 3-6. — Бібліогр.: 21 назв. — англ. 1562-6016 PACS: 68.35.-p http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/194935 en Вопросы атомной науки и техники Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України |
institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
collection |
DSpace DC |
language |
English |
topic |
Physics of radiation damages and effects in solids Physics of radiation damages and effects in solids |
spellingShingle |
Physics of radiation damages and effects in solids Physics of radiation damages and effects in solids Starchenko, I.V. Sadanov, E.V. Features of helium complexes behaviour near the free surface in tungsten Вопросы атомной науки и техники |
description |
The formation of interstitial atoms by lattice tungsten atoms displacement by clusters of implanted helium, which is accompanied with the appearance of helium-vacancy complexes, was found. The stimulating effect of the free surface on the development of the processes of displacement and dissociation of complexes has been revealed. It is shown that this influence is caused by the action of image forces. The depth of the image forces was determined, which was about 2.5 nm. |
format |
Article |
author |
Starchenko, I.V. Sadanov, E.V. |
author_facet |
Starchenko, I.V. Sadanov, E.V. |
author_sort |
Starchenko, I.V. |
title |
Features of helium complexes behaviour near the free surface in tungsten |
title_short |
Features of helium complexes behaviour near the free surface in tungsten |
title_full |
Features of helium complexes behaviour near the free surface in tungsten |
title_fullStr |
Features of helium complexes behaviour near the free surface in tungsten |
title_full_unstemmed |
Features of helium complexes behaviour near the free surface in tungsten |
title_sort |
features of helium complexes behaviour near the free surface in tungsten |
publisher |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України |
publishDate |
2019 |
topic_facet |
Physics of radiation damages and effects in solids |
url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/194935 |
citation_txt |
Features of helium complexes behaviour near the free surface in tungsten / I.V. Starchenko, E.V. Sadanov // Problems of atomic science and technology. — 2019. — № 2. — С. 3-6. — Бібліогр.: 21 назв. — англ. |
series |
Вопросы атомной науки и техники |
work_keys_str_mv |
AT starchenkoiv featuresofheliumcomplexesbehaviournearthefreesurfaceintungsten AT sadanovev featuresofheliumcomplexesbehaviournearthefreesurfaceintungsten |
first_indexed |
2024-03-31T09:13:36Z |
last_indexed |
2024-03-31T09:13:36Z |
_version_ |
1796158001322655744 |