Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam
When conducting an industrial radiation processes at an electron accelerator, a part of the beam energy is transformed into bremsstrahlung radiation. In such a way, the mixed e,X-radiation is formed in the area behind an irradiated object. The intensity of the electron and photon components in the r...
Збережено в:
| Дата: | 2021 |
|---|---|
| Автори: | , , , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2021
|
| Назва видання: | Вопросы атомной науки и техники |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/195811 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam / R.I. Pomatsalyuk, V.A. Shevchenko D.V. Titov, A.Eh. Tenishev, V.L. Uvarov, A.A. Zakharchenko, V.N. Vereshchaka // Problems of Atomic Science and Technology. — 2021. — № 6. — С. 201-205. — Бібліогр.: 12 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-195811 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-1958112023-12-07T12:41:37Z Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam Pomatsalyuk, R.I. Shevchenko, V.A. Titov, D.V. Tenishev, A.Eh. Uvarov, V.L. Zakharchenko, A.A. Vereshchaka, V.N. Application of accelerators in radiation technologies When conducting an industrial radiation processes at an electron accelerator, a part of the beam energy is transformed into bremsstrahlung radiation. In such a way, the mixed e,X-radiation is formed in the area behind an irradiated object. The intensity of the electron and photon components in the radiation is determined by the energy and power of the primary electron beam, as well as by the parameters of the object and devices located behind it. In paper, the characteristics of the e,X-radiation accompanying the product processing by a scanning electron beam with energy 8…12 MeV at a LU-10 Linac of NSC KIPT are studied. The conditions for obtaining a source of secondary X-rays in the state of electronic equilibrium, as well as its monitoring using an extended free-air ionization chamber are explored. Such an extra-source of radiation can be used for carrying out various non-commercial programs like radiation tests, sanitization of archival materials and cultural heritage objects, etc. При проведенні радіаційно-технологічних програм на прискорювачі електронів частина енергії пучка трансформується в гальмівне випромінювання. Як наслідок, в області за об'єктом формується потік мішаного e,X-випромінювання. Інтенсивність його електронного та фотонного компонентів визначається енергією і потужністю первинного пучка електронів, а також параметрами об’єкта та розміщених за ним пристроїв. Досліджені характеристики e,X-випромінювання, що супроводжує обробку продукції скануючим пучком електронів з енергією 8…12 МеВ на промисловому прискорювачі ЛП-10 ННЦ ХФТІ. Вивчені умови отримання джерела вторинного гальмівного випромінювання в стані електронної рівноваги, а також його моніторингу з використанням протяжної вільно-повітряної іонізаційної камери. Таке додаткове джерело випромінювання може бути використано для проведення різних некомерційних програм, наприклад, радіаційних випробувань, санітарної обробки архівних матеріалів, об’єктів культурної спадщини та інше. При проведении радиационно-технологических программ на ускорителе электронов часть энергии пучка трансформируется в тормозное излучение. В результате, в области за объектом формируется поток смешанного e,X-излучения. Интенсивность его электронного и фотонного компонентов определяется энергией и мощностью первичного пучка электронов, а также параметрами объекта и размещенных за ним устройств. Изучены характеристики e,X-излучения, которое сопровождает обработку продукции сканирующим пучком электронов с энергией 8…12 МэВ на промышленном ускорителе ЛУ-10 ННЦ ХФТИ. Исследованы условия получения источника вторичного тормозного излучения в состоянии электронного равновесия, а также его мониторинга с использованием протяженной свободно-воздушной ионизационной камеры. Такой дополнительный источник излучения может быть использован для проведения некоммерческих программ, например, радиационных испытаний, санитарной обработки архивных материалов, объектов культурного наследия и т.п. 2021 Article Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam / R.I. Pomatsalyuk, V.A. Shevchenko D.V. Titov, A.Eh. Tenishev, V.L. Uvarov, A.A. Zakharchenko, V.N. Vereshchaka // Problems of Atomic Science and Technology. — 2021. — № 6. — С. 201-205. — Бібліогр.: 12 назв. — англ. 1562-6016 PACS: 87.56.bd; 41.50.+h; 81.40.Wx; 87.53Bn DOI: https://doi.org/10.46813/2021-136-201 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/195811 en Вопросы атомной науки и техники Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
English |
| topic |
Application of accelerators in radiation technologies Application of accelerators in radiation technologies |
| spellingShingle |
Application of accelerators in radiation technologies Application of accelerators in radiation technologies Pomatsalyuk, R.I. Shevchenko, V.A. Titov, D.V. Tenishev, A.Eh. Uvarov, V.L. Zakharchenko, A.A. Vereshchaka, V.N. Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam Вопросы атомной науки и техники |
| description |
When conducting an industrial radiation processes at an electron accelerator, a part of the beam energy is transformed into bremsstrahlung radiation. In such a way, the mixed e,X-radiation is formed in the area behind an irradiated object. The intensity of the electron and photon components in the radiation is determined by the energy and power of the primary electron beam, as well as by the parameters of the object and devices located behind it. In paper, the characteristics of the e,X-radiation accompanying the product processing by a scanning electron beam with energy 8…12 MeV at a LU-10 Linac of NSC KIPT are studied. The conditions for obtaining a source of secondary X-rays in the state of electronic equilibrium, as well as its monitoring using an extended free-air ionization chamber are explored. Such an extra-source of radiation can be used for carrying out various non-commercial programs like radiation tests, sanitization of archival materials and cultural heritage objects, etc. |
| format |
Article |
| author |
Pomatsalyuk, R.I. Shevchenko, V.A. Titov, D.V. Tenishev, A.Eh. Uvarov, V.L. Zakharchenko, A.A. Vereshchaka, V.N. |
| author_facet |
Pomatsalyuk, R.I. Shevchenko, V.A. Titov, D.V. Tenishev, A.Eh. Uvarov, V.L. Zakharchenko, A.A. Vereshchaka, V.N. |
| author_sort |
Pomatsalyuk, R.I. |
| title |
Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam |
| title_short |
Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam |
| title_full |
Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam |
| title_fullStr |
Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam |
| title_full_unstemmed |
Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam |
| title_sort |
formation and monitoring of secondary x-ray radiation under product processing with electron beam |
| publisher |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України |
| publishDate |
2021 |
| topic_facet |
Application of accelerators in radiation technologies |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/195811 |
| citation_txt |
Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam / R.I. Pomatsalyuk, V.A. Shevchenko D.V. Titov, A.Eh. Tenishev, V.L. Uvarov, A.A. Zakharchenko, V.N. Vereshchaka // Problems of Atomic Science and Technology. — 2021. — № 6. — С. 201-205. — Бібліогр.: 12 назв. — англ. |
| series |
Вопросы атомной науки и техники |
| work_keys_str_mv |
AT pomatsalyukri formationandmonitoringofsecondaryxrayradiationunderproductprocessingwithelectronbeam AT shevchenkova formationandmonitoringofsecondaryxrayradiationunderproductprocessingwithelectronbeam AT titovdv formationandmonitoringofsecondaryxrayradiationunderproductprocessingwithelectronbeam AT tenishevaeh formationandmonitoringofsecondaryxrayradiationunderproductprocessingwithelectronbeam AT uvarovvl formationandmonitoringofsecondaryxrayradiationunderproductprocessingwithelectronbeam AT zakharchenkoaa formationandmonitoringofsecondaryxrayradiationunderproductprocessingwithelectronbeam AT vereshchakavn formationandmonitoringofsecondaryxrayradiationunderproductprocessingwithelectronbeam |
| first_indexed |
2024-03-31T09:17:21Z |
| last_indexed |
2024-03-31T09:17:21Z |
| _version_ |
1796158091427840000 |