Розрахунок кутової залежності випромінювання, що розсіяне поверхнею фотопружного середовища

В рамках теорії некогерентного розсіяння, обумовленого взаємодією електромагнітної хвилі з флуктуаціями поверхневих хвиль Релея, розрахована кутова залежність випромінювання, розсіяного поверхнею фотопружного середовища. Аналіз інтегрального коефіцієнта розсіяння свідчить, що неоднорідність діелектр...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2011
Автори: Семчук, О.Ю., Клименко, В.Є.
Формат: Стаття
Мова:Ukrainian
Опубліковано: Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка НАН України 2011
Назва видання:Хімія, фізика та технологія поверхні
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/29037
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Розрахунок кутової залежності випромінювання, що розсіяне поверхнею фотопружного середовища / О.Ю. Семчук, В.Є. Клименко // Хімія, фізика та технологія поверхні. — 2011. — Т. 2, № 1. — С. 20-22. — Бібліогр.: 9 назв. — укр.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:В рамках теорії некогерентного розсіяння, обумовленого взаємодією електромагнітної хвилі з флуктуаціями поверхневих хвиль Релея, розрахована кутова залежність випромінювання, розсіяного поверхнею фотопружного середовища. Аналіз інтегрального коефіцієнта розсіяння свідчить, що неоднорідність діелектричної проникності дає суттєвий внесок в його величину при кутах розсіяння до 35°. З подальшим збільшенням кута розсіяння визначальним стає фотопружний механізм розсіяння.