Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ)
Методом електронної мiкроскопiї високої роздiльної здатностi (ЕМВРЗ) у суцiльних плiвках фулериту C60 встановлено iснування двох типiв границь мiж кристалiтами. По-перше, це практично iдеальнi когерентнi границi мiж двiйниками. По-друге, некогерентнi границi, що iнiцiюють утворення множинних дефектi...
Збережено в:
| Дата: | 2010 |
|---|---|
| Автори: | , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Ukrainian |
| Опубліковано: |
Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
2010
|
| Назва видання: | Доповіді НАН України |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/29833 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ) / Ю.М. Солонiн, К.О. Грайворонська // Доп. НАН України. — 2010. — № 6. — С. 97-102. — Бібліогр.: 4 назв. — укр. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-29833 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-298332012-01-07T12:14:39Z Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ) Солонін, Ю.М. Грайворонська, К.О. Матеріалознавство Методом електронної мiкроскопiї високої роздiльної здатностi (ЕМВРЗ) у суцiльних плiвках фулериту C60 встановлено iснування двох типiв границь мiж кристалiтами. По-перше, це практично iдеальнi когерентнi границi мiж двiйниками. По-друге, некогерентнi границi, що iнiцiюють утворення множинних дефектiв пакування в одному iз прилеглих зерен. By means of high resolution electron microscopy (HREM), two types of crystallite boundaries are found in fullerite C60 thin films: practically ideal coherent boundaries between twins and incoherent boundaries initiating the formation of multiple stacking faults in one of the adjacent grains. 2010 Article Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ) / Ю.М. Солонiн, К.О. Грайворонська // Доп. НАН України. — 2010. — № 6. — С. 97-102. — Бібліогр.: 4 назв. — укр. 1025-6415 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/29833 539.25:620.187 uk Доповіді НАН України Видавничий дім "Академперіодика" НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
Ukrainian |
| topic |
Матеріалознавство Матеріалознавство |
| spellingShingle |
Матеріалознавство Матеріалознавство Солонін, Ю.М. Грайворонська, К.О. Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ) Доповіді НАН України |
| description |
Методом електронної мiкроскопiї високої роздiльної здатностi (ЕМВРЗ) у суцiльних плiвках фулериту C60 встановлено iснування двох типiв границь мiж кристалiтами. По-перше, це практично iдеальнi когерентнi границi мiж двiйниками. По-друге, некогерентнi границi, що iнiцiюють утворення множинних дефектiв пакування в одному iз прилеглих зерен. |
| format |
Article |
| author |
Солонін, Ю.М. Грайворонська, К.О. |
| author_facet |
Солонін, Ю.М. Грайворонська, К.О. |
| author_sort |
Солонін, Ю.М. |
| title |
Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ) |
| title_short |
Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ) |
| title_full |
Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ) |
| title_fullStr |
Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ) |
| title_full_unstemmed |
Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ) |
| title_sort |
дослідження особливостей структури границь в плівках с60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (емврз) |
| publisher |
Видавничий дім "Академперіодика" НАН України |
| publishDate |
2010 |
| topic_facet |
Матеріалознавство |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/29833 |
| citation_txt |
Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ) / Ю.М. Солонiн, К.О. Грайворонська // Доп. НАН України. — 2010. — № 6. — С. 97-102. — Бібліогр.: 4 назв. — укр. |
| series |
Доповіді НАН України |
| work_keys_str_mv |
AT solonínûm doslídžennâosoblivostejstrukturigranicʹvplívkahs60metodomelektronnoímíkroskopíívisokoírozdílʹnoízdatnostíemvrz AT grajvoronsʹkako doslídžennâosoblivostejstrukturigranicʹvplívkahs60metodomelektronnoímíkroskopíívisokoírozdílʹnoízdatnostíemvrz |
| first_indexed |
2023-10-18T17:29:09Z |
| last_indexed |
2023-10-18T17:29:09Z |
| _version_ |
1796141667524280320 |