Метод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кристалла интегральной схемы
Метод основан на использовании визуального отображения в поляризационном микроскопе локально нагретых областей в пленке холестерического жидкого кристалла на поверхности кристалла интегральной схемы....
Збережено в:
| Дата: | 2011 |
|---|---|
| Автори: | , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2011
|
| Назва видання: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/51864 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Метод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кристалла интегральной схемы / В.М. Попов, А.С. Клименко, А.П. Поканевич, В.Л. Самотовка // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2011. — № 6. — С. 30-34. — Бібліогр.: 8 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-51864 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-518642013-12-15T03:11:25Z Метод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кристалла интегральной схемы Попов, В.М. Клименко, А.С. Поканевич, А.П. Самотовка, В.Л. Технологические процессы и оборудование Метод основан на использовании визуального отображения в поляризационном микроскопе локально нагретых областей в пленке холестерического жидкого кристалла на поверхности кристалла интегральной схемы. Запропоновано метод візуального відображення температури поверхні кристала інтегральної схеми (ІС) в плівці холестеричного рідкого кристала, осадженій на поверхню із розчину. Границі локальних областей є ізотермами з температурами відповідних фазових переходів. По положенню ізотерм і потужності, яку споживає кристал ІС, визначаються теплові опори між поверхнею і середовищем. Method for visualization of integrated circuit (IC) surface temperature by means of the liquid crystal film deposited from solution on its surface is proposed. The boundaries of local regions represent isotherms with corresponding phase transitions. On the base of isotherms positions and consumed by IC power thermal resistances between crystal and environment are determined. 2011 Article Метод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кристалла интегральной схемы / В.М. Попов, А.С. Клименко, А.П. Поканевич, В.Л. Самотовка // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2011. — № 6. — С. 30-34. — Бібліогр.: 8 назв. — рос. 2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/51864 621-382 ru Технология и конструирование в электронной аппаратуре Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
Russian |
| topic |
Технологические процессы и оборудование Технологические процессы и оборудование |
| spellingShingle |
Технологические процессы и оборудование Технологические процессы и оборудование Попов, В.М. Клименко, А.С. Поканевич, А.П. Самотовка, В.Л. Метод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кристалла интегральной схемы Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| description |
Метод основан на использовании визуального отображения в поляризационном микроскопе локально нагретых областей в пленке холестерического жидкого кристалла на поверхности кристалла интегральной схемы. |
| format |
Article |
| author |
Попов, В.М. Клименко, А.С. Поканевич, А.П. Самотовка, В.Л. |
| author_facet |
Попов, В.М. Клименко, А.С. Поканевич, А.П. Самотовка, В.Л. |
| author_sort |
Попов, В.М. |
| title |
Метод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кристалла интегральной схемы |
| title_short |
Метод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кристалла интегральной схемы |
| title_full |
Метод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кристалла интегральной схемы |
| title_fullStr |
Метод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кристалла интегральной схемы |
| title_full_unstemmed |
Метод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кристалла интегральной схемы |
| title_sort |
метод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кристалла интегральной схемы |
| publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| publishDate |
2011 |
| topic_facet |
Технологические процессы и оборудование |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/51864 |
| citation_txt |
Метод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кристалла интегральной схемы / В.М. Попов, А.С. Клименко, А.П. Поканевич, В.Л. Самотовка // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2011. — № 6. — С. 30-34. — Бібліогр.: 8 назв. — рос. |
| series |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| work_keys_str_mv |
AT popovvm metodopredeleniâtemperaturyiteplovogosoprotivleniâtočekpoverhnostikristallaintegralʹnojshemy AT klimenkoas metodopredeleniâtemperaturyiteplovogosoprotivleniâtočekpoverhnostikristallaintegralʹnojshemy AT pokanevičap metodopredeleniâtemperaturyiteplovogosoprotivleniâtočekpoverhnostikristallaintegralʹnojshemy AT samotovkavl metodopredeleniâtemperaturyiteplovogosoprotivleniâtočekpoverhnostikristallaintegralʹnojshemy |
| first_indexed |
2023-10-18T18:17:12Z |
| last_indexed |
2023-10-18T18:17:12Z |
| _version_ |
1796143803828011008 |