Логические методы расчета надежности
Предложена автоматно-логическая модель надежности систем, в которой входные процессы автомата моделируют надежностные процессы в блоках системы, а выходные - надежностные процессы в самой системе....
Збережено в:
Дата: | 2010 |
---|---|
Автор: | |
Формат: | Стаття |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2010
|
Назва видання: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
Теми: | |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/51965 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Логические методы расчета надежности / В.И. Левин // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2010. — № 4. — С. 32-39. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraineid |
irk-123456789-51965 |
---|---|
record_format |
dspace |
spelling |
irk-123456789-519652013-12-21T03:16:10Z Логические методы расчета надежности Левин, В.И. Электронные средства: исследования, разработки Предложена автоматно-логическая модель надежности систем, в которой входные процессы автомата моделируют надежностные процессы в блоках системы, а выходные - надежностные процессы в самой системе. Запропоновано автоматично-логічну модель надійності систем. У ній вхідні процеси автомату моделюють надійнісні процеси у блоках системи, а вихідні процеси автомату - надійнісні процеси у самій системі. An automatical-logical model of system reliability has been introduced. Automaton's input processes model safety processes in system packages, and the it's output processes model safety processes inside system itself. 2010 Article Логические методы расчета надежности / В.И. Левин // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2010. — № 4. — С. 32-39. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. 2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/51965 ru Технология и конструирование в электронной аппаратуре Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
collection |
DSpace DC |
language |
Russian |
topic |
Электронные средства: исследования, разработки Электронные средства: исследования, разработки |
spellingShingle |
Электронные средства: исследования, разработки Электронные средства: исследования, разработки Левин, В.И. Логические методы расчета надежности Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
description |
Предложена автоматно-логическая модель надежности систем, в которой входные процессы автомата моделируют надежностные процессы в блоках системы, а выходные - надежностные процессы в самой системе. |
format |
Article |
author |
Левин, В.И. |
author_facet |
Левин, В.И. |
author_sort |
Левин, В.И. |
title |
Логические методы расчета надежности |
title_short |
Логические методы расчета надежности |
title_full |
Логические методы расчета надежности |
title_fullStr |
Логические методы расчета надежности |
title_full_unstemmed |
Логические методы расчета надежности |
title_sort |
логические методы расчета надежности |
publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
publishDate |
2010 |
topic_facet |
Электронные средства: исследования, разработки |
url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/51965 |
citation_txt |
Логические методы расчета надежности / В.И. Левин // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2010. — № 4. — С. 32-39. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |
series |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
work_keys_str_mv |
AT levinvi logičeskiemetodyrasčetanadežnosti |
first_indexed |
2023-10-18T18:17:26Z |
last_indexed |
2023-10-18T18:17:26Z |
_version_ |
1796143813539921920 |