СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов

Разработана СБИС, обеспечивающая одновременный анализ всех входящих в состав вещества элементов с высокой чувствительностью и точностью. Ее применение позволяет значительно снизить массу, габариты и энергопотребление детектора....

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2009
Автори: Сидоренко, В.П., Вербицкий, В.Г., Прокофьев, Ю.В., Кизяк, А.Ю., Николаенко, Ю.Е.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2009
Назва видання:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52041
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов / В.П. Сидоренко, В.Г. Вербицкий, Ю.В. Прокофьев, А.Ю. Кизяк, Ю.Е. Николаенко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 2. — С. 25-29. — Бібліогр.: 2 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-52041
record_format dspace
spelling irk-123456789-520412013-12-26T03:17:11Z СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов Сидоренко, В.П. Вербицкий, В.Г. Прокофьев, Ю.В. Кизяк, А.Ю. Николаенко, Ю.Е. Функциональная микро- и наноэлектроника Разработана СБИС, обеспечивающая одновременный анализ всех входящих в состав вещества элементов с высокой чувствительностью и точностью. Ее применение позволяет значительно снизить массу, габариты и энергопотребление детектора. Розроблено НВІС, яка забезпечує одночасний аналіз всіх елементів, що увіходять до складу речовини, з високою чутливістю та точністю. НВІС має в своєму складі 384 детектори з кроком 25 мкм. Застосування мікросхеми дозволяє суттєво знизити вагу, розміри, споживану потужність детектора, зменшити час аналізу та витрати матеріалу, що досліджується. VLSI which provides the simultaneous analysis of all composition of substance with a high sensitivity and precision has been developed. VLSI contains 384 detectors with a spatial resolution 25 microns. Application of the microcircuit allows essential lowering of the weight, size and power consumption of the detector, reducing the period of analysis and the expenditure of the material which is investigated. 2009 Article СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов / В.П. Сидоренко, В.Г. Вербицкий, Ю.В. Прокофьев, А.Ю. Кизяк, Ю.Е. Николаенко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 2. — С. 25-29. — Бібліогр.: 2 назв. — рос. 2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52041 ru Технология и конструирование в электронной аппаратуре Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
topic Функциональная микро- и наноэлектроника
Функциональная микро- и наноэлектроника
spellingShingle Функциональная микро- и наноэлектроника
Функциональная микро- и наноэлектроника
Сидоренко, В.П.
Вербицкий, В.Г.
Прокофьев, Ю.В.
Кизяк, А.Ю.
Николаенко, Ю.Е.
СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
description Разработана СБИС, обеспечивающая одновременный анализ всех входящих в состав вещества элементов с высокой чувствительностью и точностью. Ее применение позволяет значительно снизить массу, габариты и энергопотребление детектора.
format Article
author Сидоренко, В.П.
Вербицкий, В.Г.
Прокофьев, Ю.В.
Кизяк, А.Ю.
Николаенко, Ю.Е.
author_facet Сидоренко, В.П.
Вербицкий, В.Г.
Прокофьев, Ю.В.
Кизяк, А.Ю.
Николаенко, Ю.Е.
author_sort Сидоренко, В.П.
title СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов
title_short СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов
title_full СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов
title_fullStr СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов
title_full_unstemmed СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов
title_sort сбис для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
publishDate 2009
topic_facet Функциональная микро- и наноэлектроника
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52041
citation_txt СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов / В.П. Сидоренко, В.Г. Вербицкий, Ю.В. Прокофьев, А.Ю. Кизяк, Ю.Е. Николаенко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 2. — С. 25-29. — Бібліогр.: 2 назв. — рос.
series Технология и конструирование в электронной аппаратуре
work_keys_str_mv AT sidorenkovp sbisdlâmikroélektronnogokoordinatnočuvstvitelʹnogodetektorapriborovélementnogoanalizamaterialov
AT verbickijvg sbisdlâmikroélektronnogokoordinatnočuvstvitelʹnogodetektorapriborovélementnogoanalizamaterialov
AT prokofʹevûv sbisdlâmikroélektronnogokoordinatnočuvstvitelʹnogodetektorapriborovélementnogoanalizamaterialov
AT kizâkaû sbisdlâmikroélektronnogokoordinatnočuvstvitelʹnogodetektorapriborovélementnogoanalizamaterialov
AT nikolaenkoûe sbisdlâmikroélektronnogokoordinatnočuvstvitelʹnogodetektorapriborovélementnogoanalizamaterialov
first_indexed 2023-10-18T18:17:35Z
last_indexed 2023-10-18T18:17:35Z
_version_ 1796143820743639040