СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов
Разработана СБИС, обеспечивающая одновременный анализ всех входящих в состав вещества элементов с высокой чувствительностью и точностью. Ее применение позволяет значительно снизить массу, габариты и энергопотребление детектора....
Збережено в:
Дата: | 2009 |
---|---|
Автори: | , , , , |
Формат: | Стаття |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2009
|
Назва видання: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
Теми: | |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52041 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов / В.П. Сидоренко, В.Г. Вербицкий, Ю.В. Прокофьев, А.Ю. Кизяк, Ю.Е. Николаенко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 2. — С. 25-29. — Бібліогр.: 2 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraineid |
irk-123456789-52041 |
---|---|
record_format |
dspace |
spelling |
irk-123456789-520412013-12-26T03:17:11Z СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов Сидоренко, В.П. Вербицкий, В.Г. Прокофьев, Ю.В. Кизяк, А.Ю. Николаенко, Ю.Е. Функциональная микро- и наноэлектроника Разработана СБИС, обеспечивающая одновременный анализ всех входящих в состав вещества элементов с высокой чувствительностью и точностью. Ее применение позволяет значительно снизить массу, габариты и энергопотребление детектора. Розроблено НВІС, яка забезпечує одночасний аналіз всіх елементів, що увіходять до складу речовини, з високою чутливістю та точністю. НВІС має в своєму складі 384 детектори з кроком 25 мкм. Застосування мікросхеми дозволяє суттєво знизити вагу, розміри, споживану потужність детектора, зменшити час аналізу та витрати матеріалу, що досліджується. VLSI which provides the simultaneous analysis of all composition of substance with a high sensitivity and precision has been developed. VLSI contains 384 detectors with a spatial resolution 25 microns. Application of the microcircuit allows essential lowering of the weight, size and power consumption of the detector, reducing the period of analysis and the expenditure of the material which is investigated. 2009 Article СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов / В.П. Сидоренко, В.Г. Вербицкий, Ю.В. Прокофьев, А.Ю. Кизяк, Ю.Е. Николаенко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 2. — С. 25-29. — Бібліогр.: 2 назв. — рос. 2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52041 ru Технология и конструирование в электронной аппаратуре Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
collection |
DSpace DC |
language |
Russian |
topic |
Функциональная микро- и наноэлектроника Функциональная микро- и наноэлектроника |
spellingShingle |
Функциональная микро- и наноэлектроника Функциональная микро- и наноэлектроника Сидоренко, В.П. Вербицкий, В.Г. Прокофьев, Ю.В. Кизяк, А.Ю. Николаенко, Ю.Е. СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
description |
Разработана СБИС, обеспечивающая одновременный анализ всех входящих в состав вещества элементов с высокой чувствительностью и точностью. Ее применение позволяет значительно снизить массу, габариты и энергопотребление детектора. |
format |
Article |
author |
Сидоренко, В.П. Вербицкий, В.Г. Прокофьев, Ю.В. Кизяк, А.Ю. Николаенко, Ю.Е. |
author_facet |
Сидоренко, В.П. Вербицкий, В.Г. Прокофьев, Ю.В. Кизяк, А.Ю. Николаенко, Ю.Е. |
author_sort |
Сидоренко, В.П. |
title |
СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов |
title_short |
СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов |
title_full |
СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов |
title_fullStr |
СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов |
title_full_unstemmed |
СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов |
title_sort |
сбис для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов |
publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
publishDate |
2009 |
topic_facet |
Функциональная микро- и наноэлектроника |
url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52041 |
citation_txt |
СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов / В.П. Сидоренко, В.Г. Вербицкий, Ю.В. Прокофьев, А.Ю. Кизяк, Ю.Е. Николаенко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 2. — С. 25-29. — Бібліогр.: 2 назв. — рос. |
series |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
work_keys_str_mv |
AT sidorenkovp sbisdlâmikroélektronnogokoordinatnočuvstvitelʹnogodetektorapriborovélementnogoanalizamaterialov AT verbickijvg sbisdlâmikroélektronnogokoordinatnočuvstvitelʹnogodetektorapriborovélementnogoanalizamaterialov AT prokofʹevûv sbisdlâmikroélektronnogokoordinatnočuvstvitelʹnogodetektorapriborovélementnogoanalizamaterialov AT kizâkaû sbisdlâmikroélektronnogokoordinatnočuvstvitelʹnogodetektorapriborovélementnogoanalizamaterialov AT nikolaenkoûe sbisdlâmikroélektronnogokoordinatnočuvstvitelʹnogodetektorapriborovélementnogoanalizamaterialov |
first_indexed |
2023-10-18T18:17:35Z |
last_indexed |
2023-10-18T18:17:35Z |
_version_ |
1796143820743639040 |