Оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей
Приведены методики оценки объемных долей и диэлектрической проницаемости стекла, кристаллической фазы и наполнителя, реализуемых в стеклокерамике при разных режимах спекания....
Збережено в:
| Дата: | 2009 |
|---|---|
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2009
|
| Назва видання: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52047 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей / М.В. Дмитриев, И.Н. Еримичой, Л.И. Панов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 2. — С. 51-57. — Бібліогр.: 23 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-52047 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-520472013-12-26T03:17:20Z Оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей Дмитриев, М.В. Еримичой, И.Н. Панов, Л.И. Материалы электроники Приведены методики оценки объемных долей и диэлектрической проницаемости стекла, кристаллической фазы и наполнителя, реализуемых в стеклокерамике при разных режимах спекания. Приведено методики оцінки об'ємних часток і діелектричної проникності скла, кристалічної фази і наповнювача, що реалізовуються в склокераміці при різних режимах спікання, що дозволяє прогнозувати частку кристалічної фази і оцінювати вплив умов спікання на ефективність кристалоутворення. This article deals with methods of estimation of volumetric parts and dielectric permittivity of glass, crystalline phase and filler which are realizable in glass-ceramics at different sintering regimes. It allows to predict the part of crystalline phase and estimate the influence of sintering conditions on efficiency of crystal formation. 2009 Article Оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей / М.В. Дмитриев, И.Н. Еримичой, Л.И. Панов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 2. — С. 51-57. — Бібліогр.: 23 назв. — рос. 2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52047 ru Технология и конструирование в электронной аппаратуре Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
Russian |
| topic |
Материалы электроники Материалы электроники |
| spellingShingle |
Материалы электроники Материалы электроники Дмитриев, М.В. Еримичой, И.Н. Панов, Л.И. Оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| description |
Приведены методики оценки объемных долей и диэлектрической проницаемости стекла, кристаллической фазы и наполнителя, реализуемых в стеклокерамике при разных режимах спекания. |
| format |
Article |
| author |
Дмитриев, М.В. Еримичой, И.Н. Панов, Л.И. |
| author_facet |
Дмитриев, М.В. Еримичой, И.Н. Панов, Л.И. |
| author_sort |
Дмитриев, М.В. |
| title |
Оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей |
| title_short |
Оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей |
| title_full |
Оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей |
| title_fullStr |
Оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей |
| title_full_unstemmed |
Оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей |
| title_sort |
оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей |
| publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| publishDate |
2009 |
| topic_facet |
Материалы электроники |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52047 |
| citation_txt |
Оценка параметров компонентов моноармированой стеклокерамики со стеклокристаллической матрицей / М.В. Дмитриев, И.Н. Еримичой, Л.И. Панов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 2. — С. 51-57. — Бібліогр.: 23 назв. — рос. |
| series |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| work_keys_str_mv |
AT dmitrievmv ocenkaparametrovkomponentovmonoarmirovanojsteklokeramikisosteklokristalličeskojmatricej AT erimičojin ocenkaparametrovkomponentovmonoarmirovanojsteklokeramikisosteklokristalličeskojmatricej AT panovli ocenkaparametrovkomponentovmonoarmirovanojsteklokeramikisosteklokristalličeskojmatricej |
| first_indexed |
2023-10-18T18:17:36Z |
| last_indexed |
2023-10-18T18:17:36Z |
| _version_ |
1796143821382221824 |