Формирование мезаструктур 4НSiC p–i–n-диодов методом ионно-плазменного травления

Представлены результаты исследования и оптимизации процесса формирования карбидокремниевой мезаструктуры для p-i-n-диода на промышленной технологической базе. Исследованы характеристики диодов в интервале температуры 25-500 °С....

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2009
Автори: Болтовец, Н.С., Борисенко, А.Г., Иванов, В.Н., Федорович, О.А., Кривуца, В.А., Полозов Б.П.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2009
Назва видання:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52315
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Формирование мезаструктур 4НSiC p–i–n-диодов методом ионно-плазменного травления / Н.С. Болтовец, А.Г. Борисенко, В.Н. Иванов, О.А. Федорович, В.А. Кривуца, Б.П. Полозов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 5. — С. 45-48. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-52315
record_format dspace
spelling irk-123456789-523152013-12-30T03:10:51Z Формирование мезаструктур 4НSiC p–i–n-диодов методом ионно-плазменного травления Болтовец, Н.С. Борисенко, А.Г. Иванов, В.Н. Федорович, О.А. Кривуца, В.А. Полозов Б.П. Технологические процессы и оборудование Представлены результаты исследования и оптимизации процесса формирования карбидокремниевой мезаструктуры для p-i-n-диода на промышленной технологической базе. Исследованы характеристики диодов в интервале температуры 25-500 °С. Представлено результати дослідження та оптимізації процесу формування мезаструктур 4НSiC p-i-n-діодів на промисловій технологічній базі. Досліджено вольт-амперні характеристики та характеристики перемикання p-i-n-діодів в інтервалі температури 25-500°С.· The results of research and optimization of 4HSiC p-i-ndiodes mesastructures manufacturing method are presented as well as analysis of current-voltage characteristics and switching characteristics of p-i-n-diodes in the 25-500°C temperature range. 2009 Article Формирование мезаструктур 4НSiC p–i–n-диодов методом ионно-плазменного травления / Н.С. Болтовец, А.Г. Борисенко, В.Н. Иванов, О.А. Федорович, В.А. Кривуца, Б.П. Полозов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 5. — С. 45-48. — Бібліогр.: 8 назв. — рос. 2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52315 ru Технология и конструирование в электронной аппаратуре Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
topic Технологические процессы и оборудование
Технологические процессы и оборудование
spellingShingle Технологические процессы и оборудование
Технологические процессы и оборудование
Болтовец, Н.С.
Борисенко, А.Г.
Иванов, В.Н.
Федорович, О.А.
Кривуца, В.А.
Полозов Б.П.
Формирование мезаструктур 4НSiC p–i–n-диодов методом ионно-плазменного травления
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
description Представлены результаты исследования и оптимизации процесса формирования карбидокремниевой мезаструктуры для p-i-n-диода на промышленной технологической базе. Исследованы характеристики диодов в интервале температуры 25-500 °С.
format Article
author Болтовец, Н.С.
Борисенко, А.Г.
Иванов, В.Н.
Федорович, О.А.
Кривуца, В.А.
Полозов Б.П.
author_facet Болтовец, Н.С.
Борисенко, А.Г.
Иванов, В.Н.
Федорович, О.А.
Кривуца, В.А.
Полозов Б.П.
author_sort Болтовец, Н.С.
title Формирование мезаструктур 4НSiC p–i–n-диодов методом ионно-плазменного травления
title_short Формирование мезаструктур 4НSiC p–i–n-диодов методом ионно-плазменного травления
title_full Формирование мезаструктур 4НSiC p–i–n-диодов методом ионно-плазменного травления
title_fullStr Формирование мезаструктур 4НSiC p–i–n-диодов методом ионно-плазменного травления
title_full_unstemmed Формирование мезаструктур 4НSiC p–i–n-диодов методом ионно-плазменного травления
title_sort формирование мезаструктур 4нsic p–i–n-диодов методом ионно-плазменного травления
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
publishDate 2009
topic_facet Технологические процессы и оборудование
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52315
citation_txt Формирование мезаструктур 4НSiC p–i–n-диодов методом ионно-плазменного травления / Н.С. Болтовец, А.Г. Борисенко, В.Н. Иванов, О.А. Федорович, В.А. Кривуца, Б.П. Полозов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 5. — С. 45-48. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.
series Технология и конструирование в электронной аппаратуре
work_keys_str_mv AT boltovecns formirovaniemezastruktur4nsicpindiodovmetodomionnoplazmennogotravleniâ
AT borisenkoag formirovaniemezastruktur4nsicpindiodovmetodomionnoplazmennogotravleniâ
AT ivanovvn formirovaniemezastruktur4nsicpindiodovmetodomionnoplazmennogotravleniâ
AT fedorovičoa formirovaniemezastruktur4nsicpindiodovmetodomionnoplazmennogotravleniâ
AT krivucava formirovaniemezastruktur4nsicpindiodovmetodomionnoplazmennogotravleniâ
AT polozovbp formirovaniemezastruktur4nsicpindiodovmetodomionnoplazmennogotravleniâ
first_indexed 2023-10-18T18:18:14Z
last_indexed 2023-10-18T18:18:14Z
_version_ 1796143849770319872