Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике
Предложен комплексный метод количественной оценки доли кристаллов в композиционной стеклокерамике, полученной при разном времени ее спекания, базируемый на определении диэлектрической проницаемости композита....
Збережено в:
| Дата: | 2009 |
|---|---|
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2009
|
| Назва видання: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52317 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике / М.В. Дмитриев, И.Н. Еримичой, Л.И. Панов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 5. — С. 50-53. — Бібліогр.: 17 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-52317 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-523172013-12-30T03:11:07Z Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике Дмитриев, М.В. Еримичой, И.Н. Панов, Л.И. Материалы электроники Предложен комплексный метод количественной оценки доли кристаллов в композиционной стеклокерамике, полученной при разном времени ее спекания, базируемый на определении диэлектрической проницаемости композита. Запропоновано комплексний метод оцінки частки кристалів у композиційній склокераміці при різному часі її спікання, що базується на визначенні діелектричної проникності композита та не потребує застосування складних і трудомістких інструментальних способів ідентифікації частки кристалів.· This work presents a complex method of estimation of cristal part in composit glass-ceramics at different time points of its sintering, which is based on determining composite's permittivity and free from application of complicated and labourious tool methods of crystal part identification. 2009 Article Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике / М.В. Дмитриев, И.Н. Еримичой, Л.И. Панов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 5. — С. 50-53. — Бібліогр.: 17 назв. — рос. 2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52317 ru Технология и конструирование в электронной аппаратуре Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
Russian |
| topic |
Материалы электроники Материалы электроники |
| spellingShingle |
Материалы электроники Материалы электроники Дмитриев, М.В. Еримичой, И.Н. Панов, Л.И. Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| description |
Предложен комплексный метод количественной оценки доли кристаллов в композиционной стеклокерамике, полученной при разном времени ее спекания, базируемый на определении диэлектрической проницаемости композита. |
| format |
Article |
| author |
Дмитриев, М.В. Еримичой, И.Н. Панов, Л.И. |
| author_facet |
Дмитриев, М.В. Еримичой, И.Н. Панов, Л.И. |
| author_sort |
Дмитриев, М.В. |
| title |
Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике |
| title_short |
Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике |
| title_full |
Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике |
| title_fullStr |
Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике |
| title_full_unstemmed |
Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике |
| title_sort |
способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике |
| publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| publishDate |
2009 |
| topic_facet |
Материалы электроники |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52317 |
| citation_txt |
Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике / М.В. Дмитриев, И.Н. Еримичой, Л.И. Панов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 5. — С. 50-53. — Бібліогр.: 17 назв. — рос. |
| series |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| work_keys_str_mv |
AT dmitrievmv sposobopredeleniâdolikristallovvsteklokeramičeskomdiélektrike AT erimičojin sposobopredeleniâdolikristallovvsteklokeramičeskomdiélektrike AT panovli sposobopredeleniâdolikristallovvsteklokeramičeskomdiélektrike |
| first_indexed |
2023-10-18T18:18:15Z |
| last_indexed |
2023-10-18T18:18:15Z |
| _version_ |
1796143849983180800 |