Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев
Для научных центров и предприятий России, Белоруссии и Украины оптимален комплекс СМ-100, разработанный в Институте физики полупроводников НАН Украины.
Збережено в:
| Дата: | 2008 |
|---|---|
| Автори: | , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2008
|
| Назва видання: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52393 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев / В.М. Cорокин, Р.Я. Зелинский, А.В. Рыбалочка, А.С. Олийник // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 1. — С. 48-53. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. |