Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев

• Дата: 2008
• Автори: Сорокин, В.М., Зелинский, Р.Я., Рыбалочка, А.В., Олийник, А.С.
• Формат: Стаття
• Мова: Russian
• Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2008
• Назва видання: Технология и конструирование в электронной аппаратуре
• Теми: Технологические процессы и оборудование
• Онлайн доступ: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52393
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев / В.М. Cорокин, Р.Я. Зелинский, А.В. Рыбалочка, А.С. Олийник // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 1. — С. 48-53. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.

Для научных центров и предприятий России, Белоруссии и Украины оптимален комплекс СМ-100, разработанный в Институте физики полупроводников НАН Украины.