Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем - Мокрицкий, В.А.; Банзак, О.В.; Волосевич, В.П. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2008)
Обнаружена стойкость основных пара-метров микросборок, предназначенных для измерения и стабилизации температуры первичных преобразователей неэлектрических величин, к воздействию быстрыми электронами и нейтронами. Показаны причины изменений некоторых параметров.