2025-02-23T06:05:59-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-53801%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T06:05:59-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-53801%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T06:05:59-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T06:05:59-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
Закономерности деградации светоизлучающих диодов

Закономерности деградации светоизлучающих диодов

Предложен метод тестирования фосфид-галлиевых светоизлучающих диодов на величину срока службы, значительно сокращающий время отбраковки ненадежных СИД в производстве....

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Викулин, И.М., Ирха, В.И., Коробицын, Б.В., Горбачев, В.Э.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2004
Series:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Subjects:
Контроль. Качество. Надежность
Online Access:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/53801
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

Internet

http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/53801

Similar Items