Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов
Для диагностики качества полупроводниковых диодов, изготавливаемых методом сварко-пайки, предлагается использовать изображение излучения кристалла.
Збережено в:
| Дата: | 2004 |
|---|---|
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2004
|
| Назва видання: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/54435 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов / С.П. Павлюк, Л.В. Ищук, В.М. Кислицын // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 3. — С. 62-64. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-54435 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-544352014-02-02T03:13:17Z Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов Павлюк, С.П. Ищук, Л.В. Кислицын, В.М. Интегральные схемы и полупроводниковые приборы Для диагностики качества полупроводниковых диодов, изготавливаемых методом сварко-пайки, предлагается использовать изображение излучения кристалла. 2004 Article Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов / С.П. Павлюк, Л.В. Ищук, В.М. Кислицын // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 3. — С. 62-64. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. 2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/54435 ru Технология и конструирование в электронной аппаратуре Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
Russian |
| topic |
Интегральные схемы и полупроводниковые приборы Интегральные схемы и полупроводниковые приборы |
| spellingShingle |
Интегральные схемы и полупроводниковые приборы Интегральные схемы и полупроводниковые приборы Павлюк, С.П. Ищук, Л.В. Кислицын, В.М. Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| description |
Для диагностики качества полупроводниковых диодов, изготавливаемых методом сварко-пайки, предлагается использовать изображение излучения кристалла. |
| format |
Article |
| author |
Павлюк, С.П. Ищук, Л.В. Кислицын, В.М. |
| author_facet |
Павлюк, С.П. Ищук, Л.В. Кислицын, В.М. |
| author_sort |
Павлюк, С.П. |
| title |
Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов |
| title_short |
Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов |
| title_full |
Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов |
| title_fullStr |
Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов |
| title_full_unstemmed |
Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов |
| title_sort |
экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов |
| publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| publishDate |
2004 |
| topic_facet |
Интегральные схемы и полупроводниковые приборы |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/54435 |
| citation_txt |
Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов / С.П. Павлюк, Л.В. Ищук, В.М. Кислицын // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 3. — С. 62-64. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. |
| series |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| work_keys_str_mv |
AT pavlûksp ékspressmetodkontrolâkačestvapoluprovodnikovyhdiodnyhkristallov AT iŝuklv ékspressmetodkontrolâkačestvapoluprovodnikovyhdiodnyhkristallov AT kislicynvm ékspressmetodkontrolâkačestvapoluprovodnikovyhdiodnyhkristallov |
| first_indexed |
2023-10-18T18:22:59Z |
| last_indexed |
2023-10-18T18:22:59Z |
| _version_ |
1796144061804969984 |