Измерительный комплекс для определения фотоэлектрических параметров приемников излучения
Комплекс ИКФ-009 позволяет сократить время и стоимость этапов при разработке приемников излучения и повысить достоверность измеряемых параметров при высокой надежности эксплуатации....
Збережено в:
| Дата: | 2004 |
|---|---|
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2004
|
| Назва видання: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/56300 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Измерительный комплекс для определения фотоэлектрических параметров приемников излучения / А.А. Ащеулов, А.Х. Дунаенко, В.Д. Фотий // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 6. — С. 38-39. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-56300 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-563002014-02-16T03:14:41Z Измерительный комплекс для определения фотоэлектрических параметров приемников излучения Ащеулов, А.А. Дунаенко, А.Х. Фотий, В.Д. Новое технологическое оборудование для микроэлектроники Комплекс ИКФ-009 позволяет сократить время и стоимость этапов при разработке приемников излучения и повысить достоверность измеряемых параметров при высокой надежности эксплуатации. 2004 Article Измерительный комплекс для определения фотоэлектрических параметров приемников излучения / А.А. Ащеулов, А.Х. Дунаенко, В.Д. Фотий // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 6. — С. 38-39. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. 2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/56300 ru Технология и конструирование в электронной аппаратуре Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
Russian |
| topic |
Новое технологическое оборудование для микроэлектроники Новое технологическое оборудование для микроэлектроники |
| spellingShingle |
Новое технологическое оборудование для микроэлектроники Новое технологическое оборудование для микроэлектроники Ащеулов, А.А. Дунаенко, А.Х. Фотий, В.Д. Измерительный комплекс для определения фотоэлектрических параметров приемников излучения Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| description |
Комплекс ИКФ-009 позволяет сократить время и стоимость этапов при разработке приемников излучения и повысить достоверность измеряемых параметров при высокой надежности эксплуатации. |
| format |
Article |
| author |
Ащеулов, А.А. Дунаенко, А.Х. Фотий, В.Д. |
| author_facet |
Ащеулов, А.А. Дунаенко, А.Х. Фотий, В.Д. |
| author_sort |
Ащеулов, А.А. |
| title |
Измерительный комплекс для определения фотоэлектрических параметров приемников излучения |
| title_short |
Измерительный комплекс для определения фотоэлектрических параметров приемников излучения |
| title_full |
Измерительный комплекс для определения фотоэлектрических параметров приемников излучения |
| title_fullStr |
Измерительный комплекс для определения фотоэлектрических параметров приемников излучения |
| title_full_unstemmed |
Измерительный комплекс для определения фотоэлектрических параметров приемников излучения |
| title_sort |
измерительный комплекс для определения фотоэлектрических параметров приемников излучения |
| publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| publishDate |
2004 |
| topic_facet |
Новое технологическое оборудование для микроэлектроники |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/56300 |
| citation_txt |
Измерительный комплекс для определения фотоэлектрических параметров приемников излучения / А.А. Ащеулов, А.Х. Дунаенко, В.Д. Фотий // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 6. — С. 38-39. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |
| series |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| work_keys_str_mv |
AT aŝeulovaa izmeritelʹnyjkompleksdlâopredeleniâfotoélektričeskihparametrovpriemnikovizlučeniâ AT dunaenkoah izmeritelʹnyjkompleksdlâopredeleniâfotoélektričeskihparametrovpriemnikovizlučeniâ AT fotijvd izmeritelʹnyjkompleksdlâopredeleniâfotoélektričeskihparametrovpriemnikovizlučeniâ |
| first_indexed |
2023-10-18T18:27:22Z |
| last_indexed |
2023-10-18T18:27:22Z |
| _version_ |
1796144259054698496 |