Atomistic models for R1–xPrxBa2Cu3O7–δ (R = Y and lanthanides) and related oxides

We report the results of defect structures studies of silicon implanted at different temperatures with Mn ions (Si:Mn) and of GaMnAs layers, next annealed under ambient and high pressures. An influence of annealing conditions on structural properties of Si:Mn and GaMnAs layers was investigated. It h...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2009
Автори: Chroneos, A.I., Goulatis, I.L., Vovk, R.V., Zavgorodniy, A.A., Obolenskii, M.A., Petrenko, A.G., Samoilov, A.V.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України 2009
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/5990
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Atomistic models for R1–xPrxBa2Cu3O7–δ (R = Y and lanthanides) and related oxides / A.I. Chroneos, I.L. Goulatis, R.V. Vovk, A.A. Zavgorodniy, M.A. Obolenskii, A.G. Petrenko, A.V. Samoilov // Физика и техника высоких давлений. — 2009. — Т. 19, № 2. — С. 7-13. — Бібліогр.: 17 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-5990
record_format dspace
spelling irk-123456789-59902010-02-15T12:01:24Z Atomistic models for R1–xPrxBa2Cu3O7–δ (R = Y and lanthanides) and related oxides Chroneos, A.I. Goulatis, I.L. Vovk, R.V. Zavgorodniy, A.A. Obolenskii, M.A. Petrenko, A.G. Samoilov, A.V. We report the results of defect structures studies of silicon implanted at different temperatures with Mn ions (Si:Mn) and of GaMnAs layers, next annealed under ambient and high pressures. An influence of annealing conditions on structural properties of Si:Mn and GaMnAs layers was investigated. It has been confirmed that annealing of the Si:Mn samples after implantation results in crystallization of silicon inside the buried postimplanted layer, as well as in the formation of ferromagnetic Mn4Si7 precipitates. A change of strain in the GaMnAs layer, from the compressive to the tensile one, related to a creation of nanoclustered MnAs, was found to be dependent on processing conditions and primary existing structural defects, while independent of the Mn concentration. An influence of primary defects on the structural transformations of the GaMnAs layer is discussed. Атомістичні методи імітаційного моделювання, основані на принципі мінімізації енергії, використані для вивчення структурних параметрів ряду орторомбічних R1–xPrxBa2Cu3O6.5 і пов'язаних з ними сполук. Нові міжатомні потенційні параметри взаємодії одержані для широкого діапазону оксидів, таких як CuO, R2O3, RBa2Cu3O6.5 і R1–xPrxBa2Cu3O6.5 (всього 62 сполуки). Одержані дані знаходяться в доброму узгoдженні з попередніми результатами експериментальних і теоретичних досліджень. Мета даної роботи – прогнозування решіточних потенціалів взаємодії, що можуть бути надалі використані як основа для теоретичного вивчення дефектної хімії надпровідних купратів та інших технологічно важливих оксидів. 2009 Article Atomistic models for R1–xPrxBa2Cu3O7–δ (R = Y and lanthanides) and related oxides / A.I. Chroneos, I.L. Goulatis, R.V. Vovk, A.A. Zavgorodniy, M.A. Obolenskii, A.G. Petrenko, A.V. Samoilov // Физика и техника высоких давлений. — 2009. — Т. 19, № 2. — С. 7-13. — Бібліогр.: 17 назв. — англ. 0868-5924 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/5990 en Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language English
description We report the results of defect structures studies of silicon implanted at different temperatures with Mn ions (Si:Mn) and of GaMnAs layers, next annealed under ambient and high pressures. An influence of annealing conditions on structural properties of Si:Mn and GaMnAs layers was investigated. It has been confirmed that annealing of the Si:Mn samples after implantation results in crystallization of silicon inside the buried postimplanted layer, as well as in the formation of ferromagnetic Mn4Si7 precipitates. A change of strain in the GaMnAs layer, from the compressive to the tensile one, related to a creation of nanoclustered MnAs, was found to be dependent on processing conditions and primary existing structural defects, while independent of the Mn concentration. An influence of primary defects on the structural transformations of the GaMnAs layer is discussed.
format Article
author Chroneos, A.I.
Goulatis, I.L.
Vovk, R.V.
Zavgorodniy, A.A.
Obolenskii, M.A.
Petrenko, A.G.
Samoilov, A.V.
spellingShingle Chroneos, A.I.
Goulatis, I.L.
Vovk, R.V.
Zavgorodniy, A.A.
Obolenskii, M.A.
Petrenko, A.G.
Samoilov, A.V.
Atomistic models for R1–xPrxBa2Cu3O7–δ (R = Y and lanthanides) and related oxides
author_facet Chroneos, A.I.
Goulatis, I.L.
Vovk, R.V.
Zavgorodniy, A.A.
Obolenskii, M.A.
Petrenko, A.G.
Samoilov, A.V.
author_sort Chroneos, A.I.
title Atomistic models for R1–xPrxBa2Cu3O7–δ (R = Y and lanthanides) and related oxides
title_short Atomistic models for R1–xPrxBa2Cu3O7–δ (R = Y and lanthanides) and related oxides
title_full Atomistic models for R1–xPrxBa2Cu3O7–δ (R = Y and lanthanides) and related oxides
title_fullStr Atomistic models for R1–xPrxBa2Cu3O7–δ (R = Y and lanthanides) and related oxides
title_full_unstemmed Atomistic models for R1–xPrxBa2Cu3O7–δ (R = Y and lanthanides) and related oxides
title_sort atomistic models for r1–xprxba2cu3o7–δ (r = y and lanthanides) and related oxides
publisher Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України
publishDate 2009
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/5990
citation_txt Atomistic models for R1–xPrxBa2Cu3O7–δ (R = Y and lanthanides) and related oxides / A.I. Chroneos, I.L. Goulatis, R.V. Vovk, A.A. Zavgorodniy, M.A. Obolenskii, A.G. Petrenko, A.V. Samoilov // Физика и техника высоких давлений. — 2009. — Т. 19, № 2. — С. 7-13. — Бібліогр.: 17 назв. — англ.
work_keys_str_mv AT chroneosai atomisticmodelsforr1xprxba2cu3o7dryandlanthanidesandrelatedoxides
AT goulatisil atomisticmodelsforr1xprxba2cu3o7dryandlanthanidesandrelatedoxides
AT vovkrv atomisticmodelsforr1xprxba2cu3o7dryandlanthanidesandrelatedoxides
AT zavgorodniyaa atomisticmodelsforr1xprxba2cu3o7dryandlanthanidesandrelatedoxides
AT obolenskiima atomisticmodelsforr1xprxba2cu3o7dryandlanthanidesandrelatedoxides
AT petrenkoag atomisticmodelsforr1xprxba2cu3o7dryandlanthanidesandrelatedoxides
AT samoilovav atomisticmodelsforr1xprxba2cu3o7dryandlanthanidesandrelatedoxides
first_indexed 2023-10-18T16:34:06Z
last_indexed 2023-10-18T16:34:06Z
_version_ 1796139327750668288