Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання
Подається метод визначення діелектричної проникності та товщини шарів плоскої шаруватої структури за результатами вимірювання коефіцієнта відбиття плоскої електромагнітної хвилі. В цьому методі використовується підхід до реконструкції частотної залежності всіх елементів матриці розсіювання в обме...
Збережено в:
| Дата: | 2010 |
|---|---|
| Автори: | , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Ukrainian |
| Опубліковано: |
Радіоастрономічний інститут НАН України
2010
|
| Назва видання: | Радиофизика и радиоастрономия |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/60106 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання / З.Т. Назарчук, А.Т. Синявський // Радиофизика и радиоастрономия. — 2010. — Т. 15, № 3. — С. 295–313. — Бібліогр.: 23 назв. — укр. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Резюме: | Подається метод визначення діелектричної проникності та товщини шарів плоскої шаруватої
структури за результатами вимірювання коефіцієнта відбиття плоскої електромагнітної хвилі.
В цьому методі використовується підхід до реконструкції частотної залежності всіх елементів
матриці розсіювання в обмеженому діапазоні частот. Матриця розсіювання відновлюється через
перерахунок виміряних коефіцієнтів відбиття від такої структури у вільному просторі та на ідеально
провідній підкладці. Високої точності обчислення діелектричної проникності та товщини шарів
досягнуто за рахунок ідентифікації спектральних коефіцієнтів, які виділено з елементів матриці
розсіювання та описано скінченним рядом незгасаючих комплексних експонент. |
|---|