Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання
Подається метод визначення діелектричної проникності та товщини шарів плоскої шаруватої структури за результатами вимірювання коефіцієнта відбиття плоскої електромагнітної хвилі. В цьому методі використовується підхід до реконструкції частотної залежності всіх елементів матриці розсіювання в обме...
Збережено в:
| Дата: | 2010 |
|---|---|
| Автори: | , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Ukrainian |
| Опубліковано: |
Радіоастрономічний інститут НАН України
2010
|
| Назва видання: | Радиофизика и радиоастрономия |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/60106 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання / З.Т. Назарчук, А.Т. Синявський // Радиофизика и радиоастрономия. — 2010. — Т. 15, № 3. — С. 295–313. — Бібліогр.: 23 назв. — укр. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-60106 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-601062014-04-12T03:02:31Z Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання Назарчук, З.Т. Синявський, А.Т. Распространение, дифракция и рассеяние электромагнитных волн Подається метод визначення діелектричної проникності та товщини шарів плоскої шаруватої структури за результатами вимірювання коефіцієнта відбиття плоскої електромагнітної хвилі. В цьому методі використовується підхід до реконструкції частотної залежності всіх елементів матриці розсіювання в обмеженому діапазоні частот. Матриця розсіювання відновлюється через перерахунок виміряних коефіцієнтів відбиття від такої структури у вільному просторі та на ідеально провідній підкладці. Високої точності обчислення діелектричної проникності та товщини шарів досягнуто за рахунок ідентифікації спектральних коефіцієнтів, які виділено з елементів матриці розсіювання та описано скінченним рядом незгасаючих комплексних експонент. Представлен метод определения диэлектрических проницаемостей и толщин слоев плоской многослойной структуры исходя из результатов измерений коэффициента отражения плоской электромагнитной волны. В этом методе используется подход к реконструкции частотной зависимости всех элементов матрицы рассеяния в ограниченном диапазоне частот. Восстановление матрицы рассеяния осуществлено путем перерасчета измеренных коэффициентов отражения от такой структуры в свободном пространстве и на идеально проводящей подложке. Высокой точности определения диэлектрической проницаемости и толщины слоев удалось достичь за счет идентификации спектральных коэффициентов, которые выделены из элементов матрицы рассеяния и представлены в виде конечного ряда незатухающих комплексных экспонент. A new method for determination of both layers’ permittivity and thickness of a plain multilayer structure is proposed. The reflection coefficient of a plain electromagnetic wave is considered as initial data in the problem. The method is based on an approach to reconstruction of the frequency dependences of all scattering matrix elements in a limited waveband. The scattering matrix has been recovered by recalculation of the measured reflection coefficients for this structure in free space and on a perfectly-conducting screen. A high accuracy in both permittivity and thickness determination is achieved due to identification of spectral coefficients which are distinguished from scattering matrix elements and expressed as a finite series of undamped complex exponents. 2010 Article Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання / З.Т. Назарчук, А.Т. Синявський // Радиофизика и радиоастрономия. — 2010. — Т. 15, № 3. — С. 295–313. — Бібліогр.: 23 назв. — укр. 1027-9636 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/60106 537.874.4 uk Радиофизика и радиоастрономия Радіоастрономічний інститут НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
Ukrainian |
| topic |
Распространение, дифракция и рассеяние электромагнитных волн Распространение, дифракция и рассеяние электромагнитных волн |
| spellingShingle |
Распространение, дифракция и рассеяние электромагнитных волн Распространение, дифракция и рассеяние электромагнитных волн Назарчук, З.Т. Синявський, А.Т. Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання Радиофизика и радиоастрономия |
| description |
Подається метод визначення діелектричної проникності та товщини шарів плоскої шаруватої
структури за результатами вимірювання коефіцієнта відбиття плоскої електромагнітної хвилі.
В цьому методі використовується підхід до реконструкції частотної залежності всіх елементів
матриці розсіювання в обмеженому діапазоні частот. Матриця розсіювання відновлюється через
перерахунок виміряних коефіцієнтів відбиття від такої структури у вільному просторі та на ідеально
провідній підкладці. Високої точності обчислення діелектричної проникності та товщини шарів
досягнуто за рахунок ідентифікації спектральних коефіцієнтів, які виділено з елементів матриці
розсіювання та описано скінченним рядом незгасаючих комплексних експонент. |
| format |
Article |
| author |
Назарчук, З.Т. Синявський, А.Т. |
| author_facet |
Назарчук, З.Т. Синявський, А.Т. |
| author_sort |
Назарчук, З.Т. |
| title |
Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання |
| title_short |
Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання |
| title_full |
Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання |
| title_fullStr |
Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання |
| title_full_unstemmed |
Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання |
| title_sort |
визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання |
| publisher |
Радіоастрономічний інститут НАН України |
| publishDate |
2010 |
| topic_facet |
Распространение, дифракция и рассеяние электромагнитных волн |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/60106 |
| citation_txt |
Визначення характеристик шаруватої структури
за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття
матрицею розсіювання / З.Т. Назарчук, А.Т. Синявський // Радиофизика и радиоастрономия. — 2010. — Т. 15, № 3. — С. 295–313. — Бібліогр.: 23 назв. — укр. |
| series |
Радиофизика и радиоастрономия |
| work_keys_str_mv |
AT nazarčukzt viznačennâharakteristikšaruvatoístrukturizarekonstrujovanoûzkoefícíêntívvídbittâmatriceûrozsíûvannâ AT sinâvsʹkijat viznačennâharakteristikšaruvatoístrukturizarekonstrujovanoûzkoefícíêntívvídbittâmatriceûrozsíûvannâ |
| first_indexed |
2023-10-18T18:35:56Z |
| last_indexed |
2023-10-18T18:35:56Z |
| _version_ |
1796144644697882624 |