Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання

• Дата: 2010
• Автори: Назарчук, З.Т., Синявський, А.Т.
• Формат: Стаття
• Мова: Ukrainian
• Опубліковано: Радіоастрономічний інститут НАН України 2010
• Назва видання: Радиофизика и радиоастрономия
• Теми: Распространение, дифракция и рассеяние электромагнитных волн
• Онлайн доступ: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/60106
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання / З.Т. Назарчук, А.Т. Синявський // Радиофизика и радиоастрономия. — 2010. — Т. 15, № 3. — С. 295–313. — Бібліогр.: 23 назв. — укр.

Подається метод визначення діелектричної проникності та товщини шарів плоскої шаруватої структури за результатами вимірювання коефіцієнта відбиття плоскої електромагнітної хвилі. В цьому методі використовується підхід до реконструкції частотної залежності всіх елементів матриці розсіювання в обме...