Визначення фракційного складу вуглецевих плівкових конденсатів методом рентегенівської фотоелектронної спектроскопії
Досліджено та проаналізовано методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії фракційний склад вихідних та імплантованих аморфних тетраедричних вуглецевих плівок. Імплантовані та наноструктуровані ta-C плівки становлять перспективні матеріали графенової електроніки...
Збережено в:
| Дата: | 2011 |
|---|---|
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Ukrainian |
| Опубліковано: |
Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України
2011
|
| Назва видання: | Породоразрушающий и металлообрабатывающий инструмент – техника и технология его изготовления и применения |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/63275 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Визначення фракційного складу вуглецевих плівкових конденсатів методом рентегенівської фотоелектронної спектроскопії / О.М. Куцай // Породоразрушающий и металлообрабатывающий инструмент – техника и технология его изготовления и применения: Сб. науч. тр. — К.: ІНМ ім. В.М. Бакуля НАН України, 2011. — Вип. 14. — С. 414-416. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Резюме: | Досліджено та проаналізовано методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії фракційний склад вихідних та імплантованих аморфних тетраедричних вуглецевих плівок. Імплантовані та наноструктуровані ta-C плівки становлять перспективні матеріали графенової електроніки |
|---|