О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники

Получено выражение, позволяющее вычислять долевые участия составных процессов деградации для любого форсированного по температуре режима испытаний, которое положено в основу процедуры преобразования диаграммы Парето. Предложена уточненная оценка коэффициента вариации обобщенного процесса деградации....

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2003
Автор: Федухин, А.В.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України 2003
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/6388
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники / А.В. Федухин // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2003. — № 2. — С. 113-118. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Получено выражение, позволяющее вычислять долевые участия составных процессов деградации для любого форсированного по температуре режима испытаний, которое положено в основу процедуры преобразования диаграммы Парето. Предложена уточненная оценка коэффициента вариации обобщенного процесса деградации.