О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники
Получено выражение, позволяющее вычислять долевые участия составных процессов деградации для любого форсированного по температуре режима испытаний, которое положено в основу процедуры преобразования диаграммы Парето. Предложена уточненная оценка коэффициента вариации обобщенного процесса деградации....
Збережено в:
| Дата: | 2003 |
|---|---|
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України
2003
|
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/6388 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники / А.В. Федухин // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2003. — № 2. — С. 113-118. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-6388 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-63882010-03-04T12:01:03Z О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники Федухин, А.В. Получено выражение, позволяющее вычислять долевые участия составных процессов деградации для любого форсированного по температуре режима испытаний, которое положено в основу процедуры преобразования диаграммы Парето. Предложена уточненная оценка коэффициента вариации обобщенного процесса деградации. 2003 Article О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники / А.В. Федухин // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2003. — № 2. — С. 113-118. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. 1817-9908 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/6388 621.382-192 ru Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
Russian |
| description |
Получено выражение, позволяющее вычислять долевые участия составных процессов деградации для любого форсированного по температуре режима испытаний, которое положено в основу процедуры преобразования диаграммы Парето. Предложена уточненная оценка коэффициента вариации обобщенного процесса деградации. |
| format |
Article |
| author |
Федухин, А.В. |
| spellingShingle |
Федухин, А.В. О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники |
| author_facet |
Федухин, А.В. |
| author_sort |
Федухин, А.В. |
| title |
О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники |
| title_short |
О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники |
| title_full |
О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники |
| title_fullStr |
О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники |
| title_full_unstemmed |
О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники |
| title_sort |
о влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники |
| publisher |
Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України |
| publishDate |
2003 |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/6388 |
| citation_txt |
О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники / А.В. Федухин // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2003. — № 2. — С. 113-118. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |
| work_keys_str_mv |
AT feduhinav ovliâniitemperaturynaharakterdegradacionnojkartinyizdelijélektronnojtehniki |
| first_indexed |
2023-10-18T16:35:02Z |
| last_indexed |
2023-10-18T16:35:02Z |
| _version_ |
1796139366661226496 |