Теория избыточных измерений
Прогресс науки и техники в течение 20 последних лет ХХ века обусловил бурное развитие высокочувствительных полупроводниковых сенсоров, биосенсоров и вторичных измерительных преобразователей (ИП) с нелинейными и, в общем случае, нестабильными функциями преобразования (ФП). Это стало предпосылкой к со...
Збережено в:
Дата: | 2006 |
---|---|
Автор: | |
Формат: | Стаття |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України
2006
|
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/6464 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Теория избыточных измерений / В.Т. Кондратов // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2006. — № 5. — С. 23-33. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineРезюме: | Прогресс науки и техники в течение 20 последних лет ХХ века обусловил бурное развитие высокочувствительных полупроводниковых сенсоров, биосенсоров и вторичных измерительных преобразователей (ИП) с нелинейными и, в общем случае, нестабильными функциями преобразования (ФП). Это стало предпосылкой к созданию новой стратегии высокоточных измерений физических величин (ФВ) при нелинейной и нестабильной ФП сенсора и / или ИП, при сохранении их высокой чувствительности. Изложена структура теории избыточных измерений, сущность, основные понятия и некоторые определения, касающиеся данной теории. |
---|