Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП
Розглянуті параметри сучасних мікроелектронних швидкодіючих АЦП, що підлягають тестуванню та оцінюванню. Показано, що в умовах виробництва доцільно використовувати складне і коштовне обладнання для тестування параметрів швидкодіючих АЦП, а при проектуванні нових пристроїв на основі цих АЦП доречно в...
Збережено в:
Дата: | 2007 |
---|---|
Автори: | , |
Формат: | Стаття |
Мова: | Ukrainian |
Опубліковано: |
Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України
2007
|
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/6487 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП / В.О. Романов, І.Б. Галелюка // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2007. — № 6. — С. 52-60. — Бібліогр.: 3 назв. — укр. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraineid |
irk-123456789-6487 |
---|---|
record_format |
dspace |
spelling |
irk-123456789-64872010-03-05T12:01:27Z Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП Романов, В.О. Галелюка, І.Б. Розглянуті параметри сучасних мікроелектронних швидкодіючих АЦП, що підлягають тестуванню та оцінюванню. Показано, що в умовах виробництва доцільно використовувати складне і коштовне обладнання для тестування параметрів швидкодіючих АЦП, а при проектуванні нових пристроїв на основі цих АЦП доречно використовувати віртуальні засоби тестування та оцінювання їх параметрів. In the article it is listed the microelectronic high-speed ADC parameters, which have to be tested and evaluated. It is shown, that at the manufacture it is expediently to use complicated and expensive equipments to evaluate parameters of high-speed ADC. But during designing of new devices on the base of high-speed ADC it is appropriate to use virtual tools for ADC parameters evaluating. 2007 Article Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП / В.О. Романов, І.Б. Галелюка // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2007. — № 6. — С. 52-60. — Бібліогр.: 3 назв. — укр. 1817-9908 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/6487 381.3 uk Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України |
institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
collection |
DSpace DC |
language |
Ukrainian |
description |
Розглянуті параметри сучасних мікроелектронних швидкодіючих АЦП, що підлягають тестуванню та оцінюванню. Показано, що в умовах виробництва доцільно використовувати складне і коштовне обладнання для тестування параметрів швидкодіючих АЦП, а при проектуванні нових пристроїв на основі цих АЦП доречно використовувати віртуальні засоби тестування та оцінювання їх параметрів. |
format |
Article |
author |
Романов, В.О. Галелюка, І.Б. |
spellingShingle |
Романов, В.О. Галелюка, І.Б. Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП |
author_facet |
Романов, В.О. Галелюка, І.Б. |
author_sort |
Романов, В.О. |
title |
Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП |
title_short |
Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП |
title_full |
Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП |
title_fullStr |
Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП |
title_full_unstemmed |
Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП |
title_sort |
тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих ацп |
publisher |
Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України |
publishDate |
2007 |
url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/6487 |
citation_txt |
Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП / В.О. Романов, І.Б. Галелюка // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2007. — № 6. — С. 52-60. — Бібліогр.: 3 назв. — укр. |
work_keys_str_mv |
AT romanovvo testuvannâtaocínûvannâparametrívšvidkodíûčihacp AT galelûkaíb testuvannâtaocínûvannâparametrívšvidkodíûčihacp |
first_indexed |
2023-10-18T16:35:16Z |
last_indexed |
2023-10-18T16:35:16Z |
_version_ |
1796139376490577920 |