Использование всестороннего давления для оценки степени влияния флуктуационного потенциала на энергетический спектр носителей заряда в кристаллических полупроводниках

Предлагается способ оценки корректности применения соотношений, полученных для энергетического спектра бездефектного кристалла, при анализе результатов эксперимента в легированных компенсированных кристаллах полупроводников, основанный на сравнении рассчитанных по данным об электронном транспорте пр...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2009
Автори: Даунов, М.И., Камилов, И.К., Габибов, С.Ф.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України 2009
Назва видання:Физика и техника высоких давлений
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/69157
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Использование всестороннего давления для оценки степени влияния флуктуационного потенциала на энергетический спектр носителей заряда в кристаллических полупроводниках / М.И. Даунов, И.К. Камилов, С.Ф. Габибов // Физика и техника высоких давлений. — 2009. — Т. 19, № 1. — С. 164-170. — Бібліогр.: 17 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-69157
record_format dspace
spelling irk-123456789-691572014-10-07T03:01:42Z Использование всестороннего давления для оценки степени влияния флуктуационного потенциала на энергетический спектр носителей заряда в кристаллических полупроводниках Даунов, М.И. Камилов, И.К. Габибов, С.Ф. Предлагается способ оценки корректности применения соотношений, полученных для энергетического спектра бездефектного кристалла, при анализе результатов эксперимента в легированных компенсированных кристаллах полупроводников, основанный на сравнении рассчитанных по данным об электронном транспорте при всестороннем давлении производных энергетических зазоров от давления dεi/dP с известными величинами. Проанализированы экспериментальные данные и результаты количественного анализа в Ge<Au, Sb>, квазибесщелевом CdSnAs2<Cu> и бесщелевом p-HgTe полупроводниках. Выяснено, что величины dεi/dP энергетических зазоров, рассчитанные согласно известным законам дисперсии, с понижением температуры и увеличением давления аномально завышаются или занижаются ввиду усиливающегося влияния флуктуационного потенциала на энергетический спектр носителей заряда. Пропонується спосіб оцінки коректності застосування співвідношень, отриманих для енергетичного спектру бездефектного кристала, при аналізі результатів експерименту в легованих компенсованих кристалах напівпровідників, заснований на порівнянні розрахованих по даним про електронний транспорт при всебічному тиску похідних енергетичних зазорів від тиску dεi/dP з відомими величинами. Проаналізовано експериментальні дані і результати кількісного аналізу в Ge<Au, Sb>, квазібезщілинному CdSnAs2<Cu> і безщілинному p-HgTe напівпровідниках. З'ясовано, що величини dεi/dP енергетичних зазорів, розраховані згідно з відомими законами дисперсії, з пониженням температури і збільшенням тиску аномально завищуються або занижуються внаслідок зростаючого впливу флуктуаційного потенціалу на енергетичний спектр носіїв заряду. A method is proposed to estimate the correctness of application of relationships derived for the energy spectrum of defect-free crystal during the analysis of experimental results for doped compensated crystals of semiconductors. The method is based on comparison of derivatives of the energy gaps versus pressure dεi/dP calculated using data on electron transport under uniform pressure and the known values. Experimental data and results of quantitative analysis in Ge<Au, Sb>, quasi-gap free CdSnAs2<Cu> and gap-free p-HgTe semiconductors have been analysed. It has been determined that the dεi/dP values of en ergy gaps calculated by the known dispersion laws increase or decrease, with temperature decrease and pressure increase, because of growing influence of fluctuation potential on the energy spectrum of charge carries. 2009 Article Использование всестороннего давления для оценки степени влияния флуктуационного потенциала на энергетический спектр носителей заряда в кристаллических полупроводниках / М.И. Даунов, И.К. Камилов, С.Ф. Габибов // Физика и техника высоких давлений. — 2009. — Т. 19, № 1. — С. 164-170. — Бібліогр.: 17 назв. — рос. 0868-5924 PACS: 72.80.Ey, 72.80.Cw, 71.23.–k http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/69157 ru Физика и техника высоких давлений Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
description Предлагается способ оценки корректности применения соотношений, полученных для энергетического спектра бездефектного кристалла, при анализе результатов эксперимента в легированных компенсированных кристаллах полупроводников, основанный на сравнении рассчитанных по данным об электронном транспорте при всестороннем давлении производных энергетических зазоров от давления dεi/dP с известными величинами. Проанализированы экспериментальные данные и результаты количественного анализа в Ge<Au, Sb>, квазибесщелевом CdSnAs2<Cu> и бесщелевом p-HgTe полупроводниках. Выяснено, что величины dεi/dP энергетических зазоров, рассчитанные согласно известным законам дисперсии, с понижением температуры и увеличением давления аномально завышаются или занижаются ввиду усиливающегося влияния флуктуационного потенциала на энергетический спектр носителей заряда.
format Article
author Даунов, М.И.
Камилов, И.К.
Габибов, С.Ф.
spellingShingle Даунов, М.И.
Камилов, И.К.
Габибов, С.Ф.
Использование всестороннего давления для оценки степени влияния флуктуационного потенциала на энергетический спектр носителей заряда в кристаллических полупроводниках
Физика и техника высоких давлений
author_facet Даунов, М.И.
Камилов, И.К.
Габибов, С.Ф.
author_sort Даунов, М.И.
title Использование всестороннего давления для оценки степени влияния флуктуационного потенциала на энергетический спектр носителей заряда в кристаллических полупроводниках
title_short Использование всестороннего давления для оценки степени влияния флуктуационного потенциала на энергетический спектр носителей заряда в кристаллических полупроводниках
title_full Использование всестороннего давления для оценки степени влияния флуктуационного потенциала на энергетический спектр носителей заряда в кристаллических полупроводниках
title_fullStr Использование всестороннего давления для оценки степени влияния флуктуационного потенциала на энергетический спектр носителей заряда в кристаллических полупроводниках
title_full_unstemmed Использование всестороннего давления для оценки степени влияния флуктуационного потенциала на энергетический спектр носителей заряда в кристаллических полупроводниках
title_sort использование всестороннего давления для оценки степени влияния флуктуационного потенциала на энергетический спектр носителей заряда в кристаллических полупроводниках
publisher Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України
publishDate 2009
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/69157
citation_txt Использование всестороннего давления для оценки степени влияния флуктуационного потенциала на энергетический спектр носителей заряда в кристаллических полупроводниках / М.И. Даунов, И.К. Камилов, С.Ф. Габибов // Физика и техника высоких давлений. — 2009. — Т. 19, № 1. — С. 164-170. — Бібліогр.: 17 назв. — рос.
series Физика и техника высоких давлений
work_keys_str_mv AT daunovmi ispolʹzovanievsestoronnegodavleniâdlâocenkistepenivliâniâfluktuacionnogopotencialanaénergetičeskijspektrnositelejzarâdavkristalličeskihpoluprovodnikah
AT kamilovik ispolʹzovanievsestoronnegodavleniâdlâocenkistepenivliâniâfluktuacionnogopotencialanaénergetičeskijspektrnositelejzarâdavkristalličeskihpoluprovodnikah
AT gabibovsf ispolʹzovanievsestoronnegodavleniâdlâocenkistepenivliâniâfluktuacionnogopotencialanaénergetičeskijspektrnositelejzarâdavkristalličeskihpoluprovodnikah
first_indexed 2023-10-18T18:56:09Z
last_indexed 2023-10-18T18:56:09Z
_version_ 1796145559555276800