2025-02-23T22:02:36-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-70333%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T22:02:36-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-70333%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T22:02:36-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T22:02:36-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий

Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий

Для решения задач материаловедения компания «Карл Цейсс» предлагает прямые и инвертированные микроскопы отраженного света, поляризационные и стереомикроскопы последнего поколения....

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Format: Article
Language:Russian
Published: Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України 2007
Series:Физика и техника высоких давлений
Online Access:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70333
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
id irk-123456789-70333
record_format dspace
spelling irk-123456789-703332014-11-03T03:01:51Z Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий Для решения задач материаловедения компания «Карл Цейсс» предлагает прямые и инвертированные микроскопы отраженного света, поляризационные и стереомикроскопы последнего поколения. 2007 Article Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий // Физика и техника высоких давлений. — 2007. — Т. 17, № 2. — С. 137-138. — рос. 0868-5924 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70333 ru Физика и техника высоких давлений Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
description Для решения задач материаловедения компания «Карл Цейсс» предлагает прямые и инвертированные микроскопы отраженного света, поляризационные и стереомикроскопы последнего поколения.
format Article
title Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий
spellingShingle Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий
Физика и техника высоких давлений
title_short Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий
title_full Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий
title_fullStr Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий
title_full_unstemmed Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий
title_sort микроскопия «карл цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий
publisher Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України
publishDate 2007
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70333
citation_txt Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий // Физика и техника высоких давлений. — 2007. — Т. 17, № 2. — С. 137-138. — рос.
series Физика и техника высоких давлений
first_indexed 2023-10-18T18:58:18Z
last_indexed 2023-10-18T18:58:18Z
_version_ 1796145656020074496

Similar Items