Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий
Для решения задач материаловедения компания «Карл Цейсс» предлагает прямые и инвертированные микроскопы отраженного света, поляризационные и стереомикроскопы последнего поколения....
Збережено в:
| Дата: | 2007 |
|---|---|
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України
2007
|
| Назва видання: | Физика и техника высоких давлений |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70333 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий // Физика и техника высоких давлений. — 2007. — Т. 17, № 2. — С. 137-138. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-70333 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-703332014-11-03T03:01:51Z Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий Для решения задач материаловедения компания «Карл Цейсс» предлагает прямые и инвертированные микроскопы отраженного света, поляризационные и стереомикроскопы последнего поколения. 2007 Article Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий // Физика и техника высоких давлений. — 2007. — Т. 17, № 2. — С. 137-138. — рос. 0868-5924 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70333 ru Физика и техника высоких давлений Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
Russian |
| description |
Для решения задач материаловедения компания «Карл Цейсс» предлагает прямые и инвертированные микроскопы отраженного света, поляризационные и стереомикроскопы последнего поколения. |
| format |
Article |
| title |
Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий |
| spellingShingle |
Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий Физика и техника высоких давлений |
| title_short |
Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий |
| title_full |
Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий |
| title_fullStr |
Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий |
| title_full_unstemmed |
Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий |
| title_sort |
микроскопия «карл цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий |
| publisher |
Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України |
| publishDate |
2007 |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70333 |
| citation_txt |
Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий // Физика и техника высоких давлений. — 2007. — Т. 17, № 2. — С. 137-138. — рос. |
| series |
Физика и техника высоких давлений |
| first_indexed |
2023-10-18T18:58:18Z |
| last_indexed |
2023-10-18T18:58:18Z |
| _version_ |
1796145656020074496 |