Исследование метрологических характеристик системы измерения малых изменений температуры

Исследование метрологических характеристик системы измерения малых изменений температуры

Предложено нестандартное устройство на основе полупроводниковых терморезисторов с отрицательным температурным коэффициентом сопротивления для контактного измерения изменений температуры в установленном диапазоне. Показано влияние количества последовательно включенных термоэлементов на параметры изме...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2014
Автори: Самынина, М.Г., Шигимага, В.А.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2014
Назва видання:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Теми:
Метрология. Стандартизация
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70541
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Исследование метрологических характеристик системы измерения малых изменений температуры / М.Г. Самынина, В.А. Шигимага // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2014. — № 1. — С. 52-56. — Бібліогр.: 11 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-70541
record_format dspace
spelling irk-123456789-705412017-04-10T13:12:52Z Исследование метрологических характеристик системы измерения малых изменений температуры Самынина, М.Г. Шигимага, В.А. Метрология. Стандартизация Предложено нестандартное устройство на основе полупроводниковых терморезисторов с отрицательным температурным коэффициентом сопротивления для контактного измерения изменений температуры в установленном диапазоне. Показано влияние количества последовательно включенных термоэлементов на параметры измерительной системы, исследованы ее метрологические характеристики. Запропоновано нестандартний пристрій на основі напівпровідникових терморезисторів з негативним температурним коефіцієнтом опору для контактного вимірювання змін температури в установленому діапазоні. Показано вплив кількості послідовно включених термоелементів на параметри вимірювальної системи, досліджено її метрологічні характеристики. Metrological parameters of the non-standard contact device were investigated to characterize its performance in temperature change measurements in the specified temperature range. Several series thermistors with a negative temperature coefficient of resistance connected into a linearization circuit were used as the sensing element of the semiconductor device. Increasing the number of thermistors leads to improved circuitry resolving power and reduced dispersion of this parameter. However, there is the question of optimal ratio of the number of thermistors and implemented temperature resolution, due to the nonlinear resolution dependence of the number of series-connected thermoelements. An example of scheme of four similar thermistors as the primary sensor and of a standard measuring instrument, which is working in ohmmeter mode, shows the ability to measure temperature changes at the level of hundredth of a Celsius degree. In this case, a quantization error, which is determined by a resolution of the measuring system, and the ohmmeter accuracy make the main contribution to the overall accuracy of measuring small temperature changes. 2014 Article Исследование метрологических характеристик системы измерения малых изменений температуры / М.Г. Самынина, В.А. Шигимага // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2014. — № 1. — С. 52-56. — Бібліогр.: 11 назв. — рос. 2225-5818 DOI: 10.15222/tkea2014.1.52 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70541 681.2.08:53.083.62 ru Технология и конструирование в электронной аппаратуре Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
topic Метрология. Стандартизация
Метрология. Стандартизация
spellingShingle Метрология. Стандартизация
Метрология. Стандартизация
Самынина, М.Г.
Шигимага, В.А.
Исследование метрологических характеристик системы измерения малых изменений температуры
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
description Предложено нестандартное устройство на основе полупроводниковых терморезисторов с отрицательным температурным коэффициентом сопротивления для контактного измерения изменений температуры в установленном диапазоне. Показано влияние количества последовательно включенных термоэлементов на параметры измерительной системы, исследованы ее метрологические характеристики.
format Article
author Самынина, М.Г.
Шигимага, В.А.
author_facet Самынина, М.Г.
Шигимага, В.А.
author_sort Самынина, М.Г.
title Исследование метрологических характеристик системы измерения малых изменений температуры
title_short Исследование метрологических характеристик системы измерения малых изменений температуры
title_full Исследование метрологических характеристик системы измерения малых изменений температуры
title_fullStr Исследование метрологических характеристик системы измерения малых изменений температуры
title_full_unstemmed Исследование метрологических характеристик системы измерения малых изменений температуры
title_sort исследование метрологических характеристик системы измерения малых изменений температуры
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
publishDate 2014
topic_facet Метрология. Стандартизация
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70541
citation_txt Исследование метрологических характеристик системы измерения малых изменений температуры / М.Г. Самынина, В.А. Шигимага // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2014. — № 1. — С. 52-56. — Бібліогр.: 11 назв. — рос.
series Технология и конструирование в электронной аппаратуре
work_keys_str_mv AT samyninamg issledovaniemetrologičeskihharakteristiksistemyizmereniâmalyhizmenenijtemperatury
AT šigimagava issledovaniemetrologičeskihharakteristiksistemyizmereniâmalyhizmenenijtemperatury
first_indexed 2023-10-18T18:58:45Z
last_indexed 2023-10-18T18:58:45Z
_version_ 1796145676674924544

Схожі ресурси