Влияние циклического режима работы охлаждающего термоэлектрического устройства на его надежность

• Datum: 2003
• Hauptverfasser: Зайков, В.П., Моисеев, В.Ф.
• Format: Artikel
• Sprache: Russian
• Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2003
• Schriftenreihe: Технология и конструирование в электронной аппаратуре
• Schlagworte: Энергетическая микроэлектроника
• Online Zugang: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70716
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Влияние циклического режима работы охлаждающего термоэлектрического устройства на его надежность / В.П. Зайков, В.Ф. Моисеев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2003. — № 6. — С. 35-38. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.

Рассмотрен циклический режим работы термоэлектрического охлаждающего устройства (ТЭУ) и определена взаимосвязь показателей надежности ТЭУ и основных значимых параметров. Полученные соотношения позволяют оценить влияние достаточно широкого круга физических параметров на показатели надежности ТЭУ, раб...