Камера тепла и холода для изделий фотоэлектронной техники
Камера тепла и холода (КТХ) предназначена для измерения фотоэлектрических параметров (ФЭП) и испытаний на надежность изделий фотоэлектронной техники в диапазоне температур от -60 до +100°С. Конструкция КТХ обеспечивает измерение ФЭП приемников лучистой энергии (ПЛЭ) в видимом и ближнем инфракрасном...
Збережено в:
Дата: | 2003 |
---|---|
Автори: | Дунаенко, А.Х., Фотий, В.Д., Ащеулов, А.А. |
Формат: | Стаття |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2003
|
Назва видання: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
Теми: | |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70722 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Камера тепла и холода для изделий фотоэлектронной техники / А.Х. Дунаенко, В.Д. Фотий, А.А. Ащеулов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2003. — № 6. — С. 51-52. — Бібліогр.: 1 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
-
Измерительный комплекс для определения фотоэлектрических параметров приемников излучения
за авторством: Ащеулов, А.А., та інші
Опубліковано: (2004) -
Особенности автоматизации диодных реакторных систем микротравления
за авторством: Будянский, А.М., та інші
Опубліковано: (2001) -
Установка для выращивания малодислокационных монокристаллов GaAs большого диаметра
за авторством: Ковтун, Г.П., та інші
Опубліковано: (2001) -
Модернизация установки фотонного отжига полупроводниковых пластин “Оникс”
за авторством: Савицкий, Г.В., та інші
Опубліковано: (2002) -
Оборудование для зондовой диагностики и контроля плазменных технологических процессов
за авторством: Дудин, С.В., та інші
Опубліковано: (2002)