Оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники

Рассматривается задача оптимизации показателя безотказности подсистем в сложных устройствах микроэлектроники с одновременным учетом модернизации элементов и их резервирования. Получены расчетные соотношения, позволяющие определить, до какого уровня целесообразно повышать вероятность безотказной рабо...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2002
Автори: Креденцер, Б.П., Ленков, С.В., Салимов, Р.А., Перегудов, Д.А., Шомин, С.А.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2002
Назва видання:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70777
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Оптимизация уровня безотказности в сложных устройствах микроэлектроники / Б.П. Креденцер, С.В. Ленков, Р.А. Салимов, Д.А. Перегудов, С.А. Шомин // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2002. — № 3. — С. 62-64. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Рассматривается задача оптимизации показателя безотказности подсистем в сложных устройствах микроэлектроники с одновременным учетом модернизации элементов и их резервирования. Получены расчетные соотношения, позволяющие определить, до какого уровня целесообразно повышать вероятность безотказной работы одного элемента (элементы идентичны) и начиная с какого уровня следует их резервировать, чтобы получить максимальное значение показателя безотказности резервированной подсистемы.